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          產(chǎn)品展廳

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          化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>表面/界面性能測(cè)定儀>納米壓痕儀/劃痕儀>iNano、iMicro、G200X 納米壓痕儀

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          iNano、iMicro、G200X 納米壓痕儀

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 深圳市錫成科學(xué)儀器有限公司
          • 品牌 其他品牌
          • 型號(hào) iNano、iMicro、G200X
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 更新時(shí)間 2024/8/7 14:51:37
          • 訪問(wèn)次數(shù) 682

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          深圳市錫成科學(xué)儀器有限公司自成立以來(lái),一直秉承誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)的理念,充分考慮客戶的技術(shù)需求及資金預(yù)算,為廣大客戶推薦合適的產(chǎn)品及服務(wù)。

           

          我們自研及代理的國(guó)內(nèi)外多種儀器設(shè)備,廣泛應(yīng)用于材料、電子、新能源、建筑、環(huán)保及化工等領(lǐng)域,用戶涵蓋各類高校、研究所、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室和質(zhì)檢部門等。在樣品制備、分析測(cè)試、材料及器件的性能表征等方面,深受用戶認(rèn)可。

           

          我們將一如既往,努力為客戶提供完善的實(shí)驗(yàn)室一站式服務(wù)。

          臺(tái)階儀,光學(xué)輪廓儀,電化學(xué)工作站,納米壓痕儀,力電聯(lián)測(cè)材料試驗(yàn)機(jī),介電溫譜測(cè)量系統(tǒng),電阻測(cè)試儀,原子力顯微鏡,光學(xué)顯微鏡

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 100萬(wàn)-150萬(wàn)
          儀器種類 納米壓痕儀 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合

          納米壓痕儀


          基于Warren C. OliverGeorge M. Pharr共同研究成果的Oliver- Pharr模型奠定了納米壓痕檢測(cè)的理論基礎(chǔ),至今仍然是納米壓痕通用的工作模型。Warren C. Oliver作為奠基者,研發(fā)了一臺(tái)納米壓痕儀,近年陸續(xù)推出了G200X、NanoFlip、iNano、iMicro和Gemini等多種力學(xué)平臺(tái)。


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          a 定量測(cè)試硬度、楊氏模量(ISO14577)

          a 連續(xù)剛度測(cè)試技術(shù)

          a 接觸剛度成像

          a 電磁力加載,位移、載荷獨(dú)立控制。

          a 多種載荷模塊:50mN、500mN、1000mN、10N

          a 超高框架剛度1×107N/m

          a NanoBlitz 3D /NanoBlitz 4D Mapping

          a 多種功能選件:高溫測(cè)試、劃痕及磨損測(cè)試、ProbeDMA粘彈性測(cè)試、AccuFilm薄膜測(cè)試、Gemini多維度磨損測(cè)試、I-V測(cè)試


          電磁力驅(qū)動(dòng)載荷激發(fā)器

          采用具有優(yōu)線性特性的電磁力驅(qū)動(dòng),高靈敏度的三片式電容傳感器,全系列納米力學(xué)產(chǎn)品在整個(gè)Z向量程范圍內(nèi)均能得到高精準(zhǔn)、高分辨的控制,確保X和Y向沒(méi)有任何偏移。


          載荷激發(fā)器

          InForce 50

          InForce 1000

          大載荷

          50mN

          1000mN

          縱向載荷分辨率

          3nN

          6nN

          壓頭移動(dòng)范圍

          45μm

          80μm

          位移噪音背景

          0.01nm

          0.1nm

          位移數(shù)字分辨率

          0.002nm

          0.004nm

          image.png



          連續(xù)剛度測(cè)試技術(shù)

          動(dòng)態(tài)力學(xué)測(cè)試原理準(zhǔn)靜態(tài)加載過(guò)程中,在壓頭施加一個(gè)正玄波,從而表征出隨著壓痕深度、載 荷、時(shí)間或者頻率的變化材料力學(xué)性能的變化。

          a 動(dòng)態(tài)激發(fā)頻率:0.1Hz~1000Hz

          a 單次動(dòng)態(tài)力學(xué)測(cè)試可以代替>100 次靜態(tài)力學(xué)測(cè)試結(jié)果

          a 在微小的力和位移測(cè)試下提供超精準(zhǔn)的動(dòng)態(tài)力學(xué)測(cè)試

          a 檢測(cè)高分子材料的復(fù)合彈性模量

          a 檢測(cè)軟材料蠕變性能

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          NanoBlitz 3D原位力學(xué)性能Mapping

          a 快速測(cè)量表面硬度和楊氏模量Mapping

          a 同時(shí)給出不同成分的力學(xué)結(jié)果統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

          a 不受樣品粗糙度和其他因素影響

          a 快速壓痕單點(diǎn)<1s,分辨率100000個(gè)像素點(diǎn)


          NanoBlitz 4D原位力學(xué)性能Mapping

          a 基于連續(xù)剛度測(cè)試技術(shù)

          a 測(cè)量硬度和彈性模量在XY軸的分布以及Z軸上隨壓入深度不同產(chǎn)生的變化

          a 動(dòng)態(tài)壓痕單點(diǎn)測(cè)試時(shí)間<3s


          高速數(shù)據(jù)采集控制器

          InQuest 是業(yè)內(nèi)響應(yīng)時(shí)間快、數(shù)據(jù)采集率高的控制系 統(tǒng),實(shí)現(xiàn)材料瞬間變化的捕捉:

          a 數(shù)據(jù)高采集率:100kHz

          a 控制器時(shí)間常數(shù):20us

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          橫向加載附件

          NanoFlip 可提供 Gemini 雙子星選件,真正實(shí)現(xiàn)原位橫向力和橫向位移的直接測(cè)量,在納米尺度上精準(zhǔn)的實(shí)現(xiàn)多維度的磨損測(cè)試,實(shí)現(xiàn)多維度的動(dòng)態(tài)力學(xué)工作模式:

          a 測(cè)量材料的摩擦系數(shù)或泊松比

          a 精確的載荷、位移、動(dòng)態(tài)響應(yīng)在橫向和縱向的控制

          a 多維度的硬度、磨損、黏附性的精準(zhǔn)測(cè)量

          a 亞納米級(jí)移動(dòng)精度的樣品臺(tái),實(shí)現(xiàn)精確定位

          a 實(shí)現(xiàn)橫向的納米和納牛級(jí)的準(zhǔn)靜態(tài)和動(dòng)態(tài)測(cè)試


          image.png


          I-V測(cè)試附件

          a 電壓范圍:1μv to 200V

          a 電流范圍:10aA to 20mA

          a 源表電壓范圍:5mV to 1000V


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