iNano®納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測試等多種納米級(jí)機(jī)械測試。 該儀器的力荷載和位移測量動(dòng)態(tài)范圍很大，因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復(fù)測試。 模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測試、刮擦和磨損以及高溫測試。 iNano提供了一整套測試擴(kuò)展選項(xiàng)，包括樣品加熱、連續(xù)剛度測量、NanoBlitz3D/4D屬性映射和遠(yuǎn)程視頻選項(xiàng)。

產(chǎn)品描述

iNano采用InForce 50驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行納米壓痕和通用納米機(jī)械測試。 InForce 50的50mN力荷載和50μm位移范圍使得該系統(tǒng)適合各種測試。 InView軟件是一個(gè)靈活的現(xiàn)代軟件包，可以輕松進(jìn)行納米級(jí)測試。 iNano是內(nèi)置高速InQuest控制器和隔振門架的緊湊平臺(tái)。 該系統(tǒng)可以測試金屬、陶瓷、復(fù)合材料、薄膜、涂層、聚合物、生物材料和凝膠等各種不同的材料和器件。

主要功能
InForce 50驅(qū)動(dòng)器，用于電容位移測量，并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭

的軟件集成探頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的探頭校準(zhǔn)

InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)

XY移動(dòng)系統(tǒng)以及易于安裝的磁性樣品架

帶數(shù)字變焦的集成顯微鏡，可實(shí)現(xiàn)精確的壓痕定位

ISO 14577和標(biāo)準(zhǔn)化測試方法

InView軟件包，包含RunTest、ReviewData、InFocus報(bào)告、InView大學(xué)在線培訓(xùn)和InView移

主要應(yīng)用
硬度和模量測量(Oliver Pharr)

高速材料性質(zhì)分布

ISO 14577硬度測試

聚合物tan delta，儲(chǔ)存和損耗模量

樣品加熱

工業(yè)應(yīng)用
大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

半導(dǎo)體和封裝行業(yè)

聚合物和塑料

MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）/納米級(jí)通用測試

陶瓷和玻璃

金屬和合金

制藥

涂料和油漆

聚合物制造

復(fù)合材料

電池和儲(chǔ)能