Climate DENS 原位氣相加熱桿
- 公司名稱 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
- 品牌 DENSsolutions
- 型號(hào) Climate
- 產(chǎn)地 荷蘭
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2023/11/15 16:53:41
- 訪問(wèn)次數(shù) 1542
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DENS Climate TEM 原位氣相加熱方案
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01 產(chǎn)品概況
Climate TEM 原位氣相加熱方案主要是為催化、納米材料生長(zhǎng)和腐蝕等科學(xué)領(lǐng)域的研究人員而設(shè)計(jì)的。是當(dāng)前市場(chǎng)上支持結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息動(dòng)態(tài)關(guān)聯(lián)的原位系統(tǒng)。與專(zhuān)有的DENS氣體分析儀集成組合使用，可進(jìn)行反應(yīng)產(chǎn)物分析。能夠在2 bar的氣體環(huán)境中進(jìn)行高達(dá)1000℃的高溫實(shí)驗(yàn)，并保持TEM的原子分辨率。這是市面上許多環(huán)境原位系統(tǒng)做不到的。另外，為了滿足客戶研究蒸汽類(lèi)反應(yīng)物對(duì)材料的影響的實(shí)驗(yàn)要求，DENS設(shè)計(jì)了蒸汽反應(yīng)器，能夠單獨(dú)地將蒸氣添加到任何氣體混合物中，并擁有獨(dú)立控制蒸汽參數(shù)的能力，便于開(kāi)展相對(duì)應(yīng)的研究，在原位實(shí)驗(yàn)中提供實(shí)驗(yàn)自由度。
02 產(chǎn)品特點(diǎn)
優(yōu)良的環(huán)境控制 1. 動(dòng)態(tài)混合 混合閥使您能夠?qū)崟r(shí)更換氣體成分，無(wú)需等待。 2. 快速切換 在幾秒鐘內(nèi)即可改變氣體環(huán)境。 3. 獨(dú)立控制 實(shí)驗(yàn)范圍廣，可獨(dú)立控制氣體成分、壓力和流量。 |
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精準(zhǔn)的溫度控制
2. 獲取量熱數(shù)據(jù)以高靈敏度監(jiān)測(cè)吸熱或放熱反應(yīng)期間的熱量變化情況。 |
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高質(zhì)量的數(shù)據(jù)結(jié)果 1. 可預(yù)定義實(shí)驗(yàn)條件 通過(guò)使用氣相加熱系統(tǒng) Climate 獲得非原位質(zhì)譜數(shù)據(jù)，在使用 TEM 之前即可設(shè)置定義好優(yōu)良的實(shí)驗(yàn)條件。 2. 高穩(wěn)定性 在靜態(tài)和流動(dòng)模式下都可達(dá)到 TEM 和 STEM 的原子級(jí)分辨率。 3. 優(yōu)異的分析能力 優(yōu)化的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn) EELS 和大立體角 EDS 信息收集。 4. 清潔實(shí)驗(yàn) 樣品桿的模塊化設(shè)計(jì)便于現(xiàn)場(chǎng)更換和清潔所有關(guān)鍵部件。 |
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03. 案例分享
對(duì)于催化劑而言，它的動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)在一定程度上決定了其表面活性位的有效性，在下圖中通過(guò)質(zhì)譜采集不同時(shí)間下的氣體濃度，與該材料在高溫下的結(jié)構(gòu)變化對(duì)比，可以很輕松確定催化材料的活性結(jié)構(gòu)。Climate 原位樣品桿對(duì)于氣體環(huán)境有著優(yōu)良的控制能力。動(dòng)態(tài)混合閥的設(shè)計(jì)賦予了樣品桿隨時(shí)改變氣體成分和流動(dòng)速率的能力，Impulse 軟件可以在最寬的范圍內(nèi)獨(dú)立控制氣體成分、壓力和流量。四探針加熱提供了最準(zhǔn)確的溫度控制，即使在氣體流動(dòng)期間，溫度也保持 0.005℃ 的穩(wěn)定性。
04 應(yīng)用領(lǐng)域
05 原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)簡(jiǎn)介
透射電子顯微鏡（TEM）一直是觀察微觀世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現(xiàn)，科學(xué)家已經(jīng)可以實(shí)現(xiàn)在原子尺度上對(duì)材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征成像。此外，TEM 的進(jìn)步也帶動(dòng)了 CCD 相機(jī)的發(fā)展，這樣，TEM 就同時(shí)具有優(yōu)異的空間分辨率和時(shí)間分辨率，那么時(shí)間和空間的結(jié)合，是否可以讓 TEM 動(dòng)起來(lái)？
眾所皆知，TEM 需要在高真空條件下表征靜止?fàn)顟B(tài)下的樣品，但這不足以反映材料在真實(shí)環(huán)境下的微觀結(jié)構(gòu)。為此，荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學(xué)家利用最新的 MEMS 技術(shù)，設(shè)計(jì)出的納米芯片，據(jù)此可以向 TEM 中引入動(dòng)態(tài)外界刺激條件，模擬樣品在真實(shí)環(huán)境下的狀態(tài)，打破壓力的限制，記錄樣品的動(dòng)態(tài)變化過(guò)程，讓 TEM真正的實(shí)現(xiàn)動(dòng)起來(lái)。
荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術(shù)優(yōu)良的、納米尺度的原位顯微工具，其產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動(dòng)態(tài)現(xiàn)象。目前，已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。
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