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          Phenom Pharos-STEM 飛納臺(tái)式掃描透射電鏡

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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          復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司(簡(jiǎn)稱“復(fù)納科技”)于 2012 年在上海成立,聚焦荷蘭飛納臺(tái)式掃描電鏡在中國(guó)市場(chǎng)的推廣和應(yīng)用,涵蓋領(lǐng)域包括材料、鋰電新能源、半導(dǎo)體、生命科學(xué)和法醫(yī)檢測(cè)等。

          截止目前,復(fù)納科技服務(wù)超過 2000 家飛納電鏡客戶和 100 家相關(guān)產(chǎn)品客戶,包括:清華大學(xué)、北京大學(xué)、復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、華南理工大學(xué)和中科院系統(tǒng)等高??蒲袉挝唬话退狗?、寧德時(shí)代、微軟、默克和出入境檢驗(yàn)局等企事業(yè)單位。

          2017 年開始,復(fù)納科技陸續(xù)與 7 家行業(yè)品牌建立了長(zhǎng)期合作,致力于為中國(guó)高校、研究所、企業(yè)和政府用戶提供先進(jìn)可靠、高效智能的科學(xué)分析儀器、優(yōu)質(zhì)專業(yè)的服務(wù)和基于核心技術(shù)的解決方案。目前已引進(jìn)先進(jìn)的:DENSsolutions TEM原位樣品桿,飛納臺(tái)式掃描電鏡,NEOSCAN臺(tái)式高分辨顯微 CT,F(xiàn)orgeNano原子層沉積、 Technoorg Linda SEM/TEM樣品制備和VSParticle 納米氣溶膠沉積等設(shè)備。

          十年以來,復(fù)納科技賦能中國(guó)科研創(chuàng)新、工業(yè)升級(jí),人工智能檢測(cè)的使命也越來越清晰。

           

           

           

           

          臺(tái)式掃描電鏡,SEM / TEM 樣品制備,ALD 原子層沉積,TEM 原位樣品桿,X 射線顯微 CT

          應(yīng)用領(lǐng)域 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,冶金,制藥

          Phenom Pharos 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測(cè)的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶, FEG 場(chǎng)發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內(nèi)都提供了高分辨率。


          Phenom Pharos-STEM 飛納臺(tái)式掃描透射電鏡配備了 STEM 樣品杯,從另一個(gè)維度提高了其成像能力和應(yīng)用的多樣性。


          新品發(fā)布.png


          作為臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡,在較低的加速電壓下,減少了電子束對(duì)樣品的損傷,顯著提高了圖像的襯度。在臺(tái)式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像,且支持用戶自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式。


          STEM.png

          BF 像:主要是樣品正下方同軸的探測(cè)器接收透射電子和部分散射電子。影響明場(chǎng)像襯度(Contrast)的主要因素是樣品的厚度和成分。樣品越厚,原子序數(shù)(Z)越大,穿透樣品的電子越少,圖像就越暗,因此 BF 像對(duì)輕元素(Z 較?。┍容^敏感。

          DF 像:主要是樣品下方非同軸位置的探測(cè)器接收散射電子信號(hào)。

          HAADF 像:主要是接收高角度的非相干散射電子信號(hào)。原子序數(shù)(Z)越大,散射角也越大,原子核對(duì)入射電子的散射作用越強(qiáng),圖像上更亮。因此又被稱為 Z 襯度像。

          三種成像模式各有特點(diǎn),具有不同的成像優(yōu)勢(shì),可以根據(jù)樣品情況搭配使用,成像結(jié)果進(jìn)行互相驗(yàn)證。


          煙草花葉病毒.png

          煙草花葉病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像


          對(duì)比掃描電鏡的背散射電子圖像(BSE),桿狀的煙草花葉病毒在 BF 模式下更加直觀。BF 模式更適合觀察輕元素(Z 較?。p元素散射作用較弱,因此在 HAADF 模式下較難清晰觀測(cè)細(xì)節(jié)。


          而桿狀煙草花葉病毒周圍較厚的脂質(zhì)球,電子較難穿透,BF 像上相對(duì)較暗。在 DF 模式下,密度較大的脂質(zhì)球表現(xiàn)出較強(qiáng)的衍射,因此在 DF 像上相對(duì)較亮。

          Phenom Pharos-STEM 飛納臺(tái)式掃描透射電鏡規(guī)格參數(shù):


          • 系統(tǒng)兼容:Phenom Pharos G2 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

          • 樣品兼容:? 3mm TEM 載網(wǎng)(夾具固定)

          • 成像時(shí)間:< 40 s*

          • 成像模式:BF、DF、HAADF、 自定義**

          • 真空度:0.1, 10 & 60 Pa

          • 分辨率:優(yōu)于 1 nm


          * 加載樣品到呈現(xiàn)圖像的時(shí)間
          ** STEM 具有 11 分割探測(cè)器,用戶可以對(duì)其進(jìn)行自定義選擇




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