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          FS-1 FilmSense多波段橢偏儀

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

          聯(lián)系方式:岱美儀器查看聯(lián)系方式

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          岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司(Dymek Company Ltd ,下面簡稱岱美)成立于1989年,是一間擁有多年經(jīng)驗(yàn)的高科技設(shè)備分銷商,主要為數(shù)據(jù)存儲、半導(dǎo)體、光通訊、高校及研發(fā)中心提供各類測量設(shè)備、工序設(shè)備以及相應(yīng)的技術(shù)支持,并與一些重要的客戶建立了長期合作的關(guān)系。自1989年創(chuàng)立至今,岱美的產(chǎn)品以及各類服務(wù)、解決方案廣泛地運(yùn)用于中國香港,中國大陸(上海、東莞、北京),中國臺灣,泰國,菲律賓,馬來西亞,越南及新加坡等地區(qū)。


          岱美在中國大陸地區(qū)主要銷售或提供技術(shù)支持的產(chǎn)品:

          晶圓鍵合機(jī)、納米壓印設(shè)備、紫外光刻機(jī)、涂膠顯影機(jī)、硅片清洗機(jī)、超薄晶圓處理設(shè)備、光學(xué)三維輪廓儀、硅穿孔TSV量測、非接觸式光學(xué)三坐標(biāo)測量儀、薄膜厚度檢測儀、主動及被動式防震臺系統(tǒng)、應(yīng)力檢測儀、電容式位移傳感器、定心儀等。


          岱美重要合作伙伴包括有:

          Thetametrisis, EVG, FSM, Opto-Alignment, Herz, PLSINTEC, Film Sense, Reditech, Lazin, Delcom, Microsense, Shb, boffotto, RTEC, Kosaka, Nanotronics, MTInc, 4D, Daeil, Microphysics,

          n&k Technology, First Nano, Schmitt, LESCO, Otsuka, STI, Kurashiki, Ryokosha, SURAGUS, Westbond...


          如有需要,請聯(lián)系我們,了解我們?nèi)绾伍_始與您之間的合作,實(shí)現(xiàn)您的企業(yè)或者組織機(jī)構(gòu)長期發(fā)展的目標(biāo)。




          膜厚儀,輪廓儀,EVG鍵合機(jī),EVG光刻機(jī),HERZ隔震臺,Microsense電容式位移傳感器

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
          應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子,制藥,電氣,綜合

          第 3 代 Film Sense 多波長橢偏儀系統(tǒng)現(xiàn)已上市!這一代的主要改進(jìn)是電動源偏振器,它支持自動校準(zhǔn)和區(qū)域平均測量。新系統(tǒng)具有與獲得zhuan利的* FS-1 橢偏儀技術(shù)相同的優(yōu)點(diǎn)(長壽命 LED 光源、快速可靠的無移動部件探測器、緊湊型設(shè)計(jì)和網(wǎng)絡(luò)瀏覽器軟件界面),同時(shí)保持易用性和經(jīng)濟(jì)性。Film Sense 多波長橢圓儀是原位實(shí)時(shí)監(jiān)測和控制薄膜沉積和蝕刻過程的理想選擇。通過原位橢圓偏振儀測量實(shí)時(shí)觀察和表征過程的能力對于診斷工藝室中的問題和提高工藝開發(fā)的效率非常有益。


          FS-1 波長

          FilmSense多波段橢偏儀

          FS-1 緊湊型封裝橢偏儀
          4 個(gè)波長,450 – 660 nm 光譜范圍(替代原來的 FS-1)
          測量 0 – 2 μm 厚度范圍內(nèi)的單層透明薄膜的良好選擇,精度低至 0.0004 nm
          美國zhuan利#9,354,118


          FS-1EX™(第 3 代)橢偏儀
             6 個(gè)波長,405 – 950 nm 光譜范圍
             2 個(gè)較長的波長(850 和 950 nm)能夠測量較厚的透明薄膜(高達(dá) 5 μm)和吸收半導(dǎo)體薄膜(如多晶硅、SiGe、非晶硅等)
             薄膜電阻率測量(使用 Drude 模型)也通過 2 個(gè)更長的波長得到改進(jìn)。

             6 個(gè)波長和更寬的光譜范圍為多層薄膜堆疊提供增強(qiáng)的測量能力

          標(biāo)準(zhǔn)異地配置

             65° 入射角。
             手動樣品加載和高度調(diào)整。
             樣品尺寸可達(dá) 200 毫米直徑。和 20 毫米的厚度。
             +/-2° 范圍內(nèi)的樣品傾斜。
             樣品上的光束尺寸:4 x 9 mm。
             占地面積小 (180 x 400 mm),重量輕 (5 kg)。


          在線機(jī)型特征

          功能:

          -亞單層厚度精度

          -在多種工藝條件下確定薄膜光學(xué)常數(shù) n&k 和沉積速率,無需破壞真空

          -監(jiān)測和控制多層膜結(jié)構(gòu)的沉積

          -用于外部軟件控制的FS-API接口(兼容LabVIEW™)

          -適用于大多數(shù)薄膜沉積和蝕刻技術(shù):濺射、ALD、ALE、MBE、CVD、PLD等。


          FS-1安裝在AJA濺射室上

          特點(diǎn):

          -系統(tǒng)無需外部電子盒或光纖連接

          -LED光源和無移動部件檢測器,運(yùn)行可靠,測量速度快

          -緊湊輕便的源和檢測器單元(每個(gè) <1 kg)

          -可選適配器,用于安裝到標(biāo)準(zhǔn) 2.75“ 或 1.33” 平壓法蘭上,具有易于調(diào)節(jié)的粗傾和精傾臺

          -強(qiáng)大的軟件功能,用于可視化和分析動態(tài)橢圓測量數(shù)據(jù)

          FS-1安裝在Kurt Lesker ALD腔室上


          第 3 代通用規(guī)格

          緊湊型光學(xué)元件:光源 142 x 80 x 60 毫米,探測器 110 x 80 x 60 毫米

          簡單連接:+5V 墻上插頭電源、以太網(wǎng)和源檢測器鏈接電纜
          電動源偏振器:
              – 提供自動儀器校準(zhǔn)
              – 實(shí)現(xiàn)區(qū)域平均測量,以提高測量精度

          強(qiáng)度提高 4 倍(與原始 FS-1 相比)和更新的檢測器電子設(shè)備提供更高的測量精度:非原位 2 倍,原位 4 倍

          照片和數(shù)據(jù)由美國研究實(shí)驗(yàn)室提供




          自動化測繪系統(tǒng)

          這些產(chǎn)品將FS-1EX多波長橢偏儀與緊湊型自動測繪平臺相結(jié)合,可在晶圓片上提供快速、準(zhǔn)確、可靠的薄膜厚度均勻性測量。


          特點(diǎn)與規(guī)格

          -6個(gè)波長的橢偏數(shù)據(jù)(405,450,525,660,850,950nm)具有長壽命 LED光源,無運(yùn)動部件的探測器

          -0-5um范國內(nèi)大多數(shù)透明薄膜的精確厚度測量

          -典型厚度重復(fù)性:0.002nm

          -集成聚焦探頭,標(biāo)準(zhǔn)光斑尺寸:0.8x1.9毫米(可提供其他光斑尺寸)

          -USB攝像頭選項(xiàng)可用

          -用于樣品自動對準(zhǔn)的電動Z臺

          -靈活的掃描棋式編輯器

          -輪廓和三維測量參數(shù)圖


          FS-XY150

          -繪制晶片圖的典型時(shí)間:2分鐘(在直徑 150毫米的晶片上取 49個(gè)點(diǎn))

          -緊湊的占地面積:600x600mm,16kg

          -載物臺行程(X,Y):150X150mm,分辨率:5um

                                                                                              FS-XY150


          FS-RT300

          -繪制品片圖的典型時(shí)間:2.5分鐘(在 300mm直徑的晶片上取 49個(gè)點(diǎn))

          -緊湊的占地面積:400x500mm,22kg

          -載物臺行程:R(線性)150mm,分辨率:12um   Theta(旋轉(zhuǎn))360°,分辨率:0.1°

                                      FS-RT300




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