一、儀器特點：

●探測器固定照相，區(qū)別于傳統(tǒng)掃描型衍射儀，照相模式高效快捷，較掃描模式快約 5-30 倍，適合做原位分析， 各角度衍射信息同一時間收集；高能量分辨率 ,有效降低熒光本底。

●測角儀θs、θd 臂采伺服電機驅動+光學編碼控制技術，探測器可沿 2θ軸做雙位置移動， 測角儀轉動更平穩(wěn)，衍射角度測量更準確，線性度更好。樣品沿θ軸旋轉，控制精度 0.01°,2 θ軸角度準確度±0.02°。

●配置多片探測器單元組成探測器組件，沿衍射圓均勻固定分布，全角度無縫覆蓋；雙層 21 片(或單層 10 片)面陣探測器，覆蓋 2θ范 圍： -3°~150°，2D 成像，同時收集γ角度 信息，二維衍射數據，信息更豐富。

●X 射線面陣型光子計數半導體探測器，高靈敏，可實現單光子計數，動態(tài)范圍大，雙閾值； 點、線光源互換，徳拜謝樂與 BB 光學幾何兼?zhèn)洌矫?、柱狀樣品兼容，探測器 2D、1D、OD 模式兼容。且抗強輻射長時照射，使用壽命長。

●散射線防護裝置更安全可靠，樣品測量時射線防護門自動禁止打開，任何情況下都能避免 操作人員受到散射線輻射。

●緊湊的尺寸可以安裝在實驗臺上，不需要特定的實驗室環(huán)境。使用、操作維護簡單。

二、設備各部分主要技術指標