菲希爾熒光射線測(cè)厚儀
- 公司名稱 無錫駿展儀器有限責(zé)任公司
- 品牌 Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/2/22 13:10:01
- 訪問次數(shù) 475
菲希爾熒光射線測(cè)厚儀菲希爾代理菲希爾鍍層測(cè)厚儀菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer X射線測(cè)厚儀
聯(lián)系方式:張經(jīng)理18068309380 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
激光干涉儀,激光跟蹤儀,白光干涉儀,粗糙度儀,測(cè)厚儀,輪廓儀,圓度儀,淬火硬化層深度無損測(cè)量?jī)x,精密儀器,測(cè)量?jī)x器
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥,綜合 |
菲希爾熒光射線測(cè)厚儀
FISCHER 的臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測(cè)量技術(shù),能提供的性能和靈活性。由于運(yùn)用了各種測(cè)量技術(shù),因此能夠?yàn)槿魏螠y(cè)量任務(wù)提供合適的解決方案。臺(tái)式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。
FISCHERSCOPE X-RAY XAN500一臺(tái)儀器,三種作業(yè)模式:XAN®500不只是一臺(tái)手持便攜式XRF設(shè)備,它還可以轉(zhuǎn)變?yōu)榕_(tái)式儀器或者整合到生產(chǎn)線中。
FISCHERSCOPE MMS PC2采用不同測(cè)量技術(shù)的模塊化系統(tǒng):非常適用于與涂鍍層厚度測(cè)量和材料測(cè)試相關(guān)的各種需求。
COULOSCOPE CMS2臺(tái)式測(cè)厚儀,幾乎可測(cè)量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層(包括多鍍層)的厚度。
GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計(jì)的XAN用于快速、高效地測(cè)量鍍層厚度及材料成分分析的測(cè)量?jī)x器。XUL / XULM基于 X 射線熒光法的測(cè)試儀器,堅(jiān)固耐用,快速、高效地測(cè)量鍍層厚度,特別適合電鍍行業(yè)。
FISCHER菲希爾測(cè)厚儀功能強(qiáng)大:菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL 系列儀器具有全面的配置方案,可手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)試,是鍍層厚度測(cè)量與材料成分分析的理想之選。XDV-SDDFISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足要求的鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)XDV-μFISCHER的XDV-μ型系列儀器,可用于測(cè)量電子或珠寶等行業(yè)中微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品XUVX 射線熒光儀器,配有用于分析輕元素的真空測(cè)量室。XDL / XDLM / XDAL憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測(cè)量方向,XDL® 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào),從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇*適合的 X 射線儀器。