X-50利用經(jīng)典的“久經(jīng)考驗(yàn)”PiN二極管技術(shù)及x射線為過渡和重金屬的基礎(chǔ)分析。 對于那些不需要測量Mg, Al, Si, 或P的公司，SciAps X-50是zuihao選擇。 我們重新設(shè)計(jì)了這一經(jīng)典的探測器技術(shù)，并為其配備了更多的功能:內(nèi)置 高分辨率攝像機(jī)，用于查看樣品，如焊縫; 用于照片記錄或2D/3D條形碼讀取和 存儲(chǔ)的宏觀相機(jī); 以及在熟悉的Android平臺(tái)上使用藍(lán)牙/Wi-Fi即時(shí)共享結(jié)果的quan球連接。

X-50包括xian進(jìn)的X光管技術(shù)與其他SciAps X系列型號(在40 kV max)進(jìn)行檢測,包括S、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co 、Ni、Cu、Zn、As、Se、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd 、Sn、Sb、Ba、Ta、W、Hg、Pb、Bi、Th、U。可以根據(jù)要求添加更多的元素。完整的樣品結(jié)果展示不到一秒。