BRAGG110 臺(tái)式X射線衍射儀
| 參考價(jià) | ￥ 800000 |
| 訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 貝拓科學(xué)
- 型號(hào) BRAGG110
- 產(chǎn)地 中國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/9/6 10:28:34
- 訪問次數(shù) 818
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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月，是國家高業(yè)，廣州科技小巨人企業(yè)，并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌（股權(quán)代碼：892081），通過ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系，擁有近20項(xiàng)國家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域，自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x，顯微拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見分光光度計(jì)，積分球式透反射率測(cè)試儀等。具備光學(xué)設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì)、軟件編寫和算法編寫核心能力，和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系，并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長(zhǎng)期實(shí)習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內(nèi)高水平，未來面向市場(chǎng)。
貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號(hào)，貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo)，為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅(jiān)持做前沿分析儀器的搬運(yùn)工，陪伴科學(xué)家不斷成長(zhǎng)。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家，例如：日本Hitachi，德國WITec,德國Bruker，英國OXFORD，美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國臺(tái)灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù)。
我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè)，更貼心的服務(wù)。
我們的優(yōu)勢(shì)和專注點(diǎn)集中于材料測(cè)試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測(cè)試服務(wù)，其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。
材料分析領(lǐng)域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國臺(tái)灣超微光學(xué)）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測(cè)量?jī)x、在線測(cè)厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
| 價(jià)格區(qū)間 | 50萬-100萬 | 儀器種類 | 多晶衍射儀 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,能源,冶金,航天 |
貝拓科學(xué)專業(yè)研發(fā)設(shè)計(jì)生產(chǎn)的BRAGG臺(tái)式X射線衍射儀采用先進(jìn)的X射線衍射技術(shù)，能夠快速、精確地進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析、相態(tài)識(shí)別和定量分析。BRAGG具有高分辨率和靈敏度，可以應(yīng)對(duì)多種樣品類型，包括粉末、液體、固體等。它還配備了用戶友好的軟件界面，方便用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。這款儀器適用于多個(gè)領(lǐng)域，包括材料科學(xué)、地球科學(xué)、化學(xué)等，為研究人員和工程師提供了強(qiáng)大的分析工具。
儀器特點(diǎn)：
● 光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
面陣型光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測(cè)器
高靈敏，可實(shí)現(xiàn)單光子計(jì)數(shù)
動(dòng)態(tài)范圍大
雙閾值
抗強(qiáng)輻射長(zhǎng)時(shí)照射，長(zhǎng)壽命
● 固定測(cè)角儀系統(tǒng)
同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像，同時(shí)收集γ角度信息
● 大角度弧形探測(cè)器
同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像，同時(shí)收集γ角度信息
探測(cè)器至樣品距離:150 mm
多片探測(cè)器全角度無縫覆蓋
● 支持多種數(shù)據(jù)采集模式
固定照相模式獲取2D衍射幀
快掃模式獲取1D衍射譜
功能應(yīng)用：
● 物相鑒定
● 定量分析
●結(jié)晶度
●晶胞參數(shù)
●晶粒尺寸
●晶體結(jié)構(gòu)
●Rietveld 精修
●相變
技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | BRAGG臺(tái)式X射線衍射儀 | |
| X射線管 | 種類 | Cu靶(靶材可選)金屬陶瓷管 |
焦點(diǎn) | 0.4x10/1x10mm點(diǎn)/線可互換 | |
| X-射線發(fā)生器 | 最大輸出 | 600W |
管電壓 | 15~40kV，1kV/Step | |
管電流 | 5~15mA，1mA/Step | |
管電壓、管電流穩(wěn)定度 | ≤0.01%(電源電壓浮動(dòng)10%) | |
| 測(cè)角儀 | 測(cè)角儀結(jié)構(gòu) | θ/2θ |
衍射光路幾何 | Bragg-Brentano/Debye-Scherrer可切換 | |
測(cè)角儀半徑 | 150mm | |
掃描/照相角度范圍 | -10~80°(θ)-3~150°(2θ) | |
工作方式 | 分段/固定照相 | |
θ軸連續(xù)掃描速度 | 0.125~30°/min | |
θ軸最高轉(zhuǎn)速 | 10°/s | |
2θ角重復(fù)精度 | ≤±0.001° | |
測(cè)量準(zhǔn)確度 | ±0.02 | |
| 檢測(cè)器 | 類型 | 混合像素光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測(cè)器 |
像素尺寸 | 70x70 μm2 | |
單片面積 | 20.1x20.1mm2 | |
噪聲 | <1cps | |
能量分辨率 | 1000eV | |
數(shù)量 | 11/21片 | |
最大線性計(jì)數(shù) | 3x106cps/pixel | |
| 機(jī)柜 | 機(jī)柜尺寸(mm) | 770(長(zhǎng))x520(寬)x800(高) |
整機(jī)重量(kg) | 120 | |
輻射劑量 | ≤0.2uSv/h(未扣除天然本底) | |
安全措施 | 門聯(lián)鎖保護(hù)/功率保護(hù)/過熱保護(hù) | |
濾波器 | Ni濾片 | 對(duì)應(yīng)Cu靶 |
| 綜合指標(biāo) | 整機(jī)綜合穩(wěn)定度 | ≤0.2% |
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