華測儀器  陶瓷壓電分析儀/鐵電/壓電

Huace FE-2000

   華測儀器  陶瓷壓電分析儀/鐵電/壓電產(chǎn)品介紹：

Huace FE系列鐵電測試系統(tǒng)是目前市場上較xianjin的設備，有著寬頻率響應范圍及寬測試電壓范圍并且在世界鐵電測試領域高測試精度能力shouquyizhi。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測試頻率可高達500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測試軟件。

 儀器配置：

Huace FE系列鐵電測試系統(tǒng)在±500V內(nèi)置電壓下，電滯回線測試頻率可高達500KHz；此外還可外部擴展電壓到4kV、10kV、20kV，Huace FE主機在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線，脈沖，漏電流，IV、CV、擊穿測試，也可加載選件實現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試功能。內(nèi)置完整的專用工控計算機主機、測試版路、運算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計算機主板、CPU(i5 或以上)、RAM(8G 或以上)、固態(tài)硬盤(250G 或以上)、網(wǎng)卡、USB 接口、 VGA 接口、預裝 Windows 7操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測試軟件等。

可擴展部件：

可與高低溫冷熱臺、高溫測試裝置、探針臺、高壓放大器、高阻計、阻抗分析儀、 激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴展。

? 塊體測試夾具：用于厚膜、塊體鐵電、擊穿測試可擴展變溫功能。

? 薄膜四探針探針臺：室溫到 250℃可用于厚膜鐵電、壓電（e31）、熱釋電測試。

? 薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺：-196℃到+600℃可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測試。

? 薄膜探針臺（國產(chǎn)）：室溫鐵電測試可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測試。

  技術(shù)參數(shù)：

?內(nèi)置電壓 (可外接高壓放大器) ：±10V （可外接不同型號放大器）

?可外接高壓放大器 （最大可外接20KV高壓放大器需配置高壓防護模塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV

?ADC位數(shù)：18位

?zui小電荷分辨率：<10fC

?zui大電荷分辨率：27.6mC

?zui小面積分辨率：<1μ2

?zui大面積分辨率：＞100cm2

?zui大電滯回線測試頻率：270KHz @10V

?zuidi測試頻率：0.03Hz

?zui小脈沖寬度 (此項指標優(yōu)于進口設備) ：0.5us

?zui小脈沖上升時間(5V)(此項指標優(yōu)于進口設備)：400ns

?zui大脈沖寬度：1s

?脈沖間最大延遲時間：40ks

?內(nèi)部時鐘：25ns

?zui小的泄漏電流 ：<1pA

?zui大小信號上限頻率 (此項指標優(yōu)于進口設備)：1MHz

?zui小小信號上限頻率 (此項指標優(yōu)于進口設備)：1MHz

?輸出上升時間控制：103 scaling

?輸入電容：~60fF

?阻抗輸入：Yes

鐵電系統(tǒng)主機優(yōu)勢在于他易于擴展、實用性，軟件系統(tǒng)兼容目前主流品牌，軟件無縫切換。為用戶降低成本。

█ 介電測試分析模塊

█ 熱激發(fā)極化電流測試TSDC

█ 擊穿電壓測試

█ 高壓極化

█ 絕緣電阻測試

█ 四探針測試

█ 壓電性能測試

█ 鐵電參數(shù)測試

█ 熱釋電性能測試

█ 居里溫度測試