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APD-QE 先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)
- 公司名稱 光焱科技股份有限公司
- 品牌 Enlitech
- 型號 APD-QE
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/6/28 10:05:43
- 訪問次數(shù) 1588
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測量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源 |
使用均勻光源的「照度模式」(Irradiance Mode) 符合ASTM E1021
取代傳統(tǒng)聚焦小光源,可以測試等級光電子檢測器。
均勢光斑可以克服色散差與像差的問題,可準(zhǔn)確測量得EQE曲線
可搭配多種探針系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)非破壞性的快速測試。
整合光學(xué)與測試系統(tǒng),提高系統(tǒng)搭建效率。
一體式自動化測試軟件,自動光譜保存與檢測,工作效率高。
測試特性:
– 環(huán)境效率 EQE
– 光譜回應(yīng) SR
– IV 曲線檢測
– NEP 光譜檢測
– D* 光譜檢測
– 噪聲-電流-頻率響應(yīng)圖(A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz)
– Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
定制化光斑尺寸與光強(qiáng)度
光焱科技APD-QE光譜儀量子效率檢查系統(tǒng)在光束直達(dá)25mm光束尺寸、工作距200mm條件下檢查,可以達(dá)到光強(qiáng)度與光均強(qiáng)度如下。在波長530nm時,光強(qiáng)度可以達(dá)到82.97uW/(cm 2 )。
定量控制功能
使用定量子數(shù)控制模式(CP控制模式),子數(shù)變化可以 < 1%
統(tǒng)一系統(tǒng)與探針整合