高級(jí)實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)
- 公司名稱 工業(yè)物理
- 品牌 SpecMetrix
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/10/10 13:38:08
- 訪問次數(shù) 130
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,冶金,航天,汽車 |
SpecMetrix® 高級(jí)實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)
高級(jí)實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)為樣品上的涂料和涂層提供非接觸式、非破壞性和實(shí)時(shí)厚度測(cè)量。
由SpecMetrix提供,工業(yè)物理旗下專業(yè)的涂層測(cè)試品牌,致力于創(chuàng)新的涂層厚度測(cè)量。
SpecMetrix®高級(jí)實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)為用戶提供了高標(biāo)準(zhǔn)的非接觸、非破壞性和實(shí)時(shí)涂層及樣品涂層厚度測(cè)量。
簡(jiǎn)化質(zhì)量控制流程
SpecMetrix®高級(jí)實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)旨在簡(jiǎn)化質(zhì)量控制流程。由于其強(qiáng)大能力,能夠以亞微米級(jí)精度識(shí)別和量化絕對(duì)薄涂層或?qū)雍穸?,它是我們推薦的實(shí)驗(yàn)室測(cè)量工具之一。
SpecMetrix高級(jí)實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)加速了離線樣品測(cè)試,并改善了來(lái)料和成品檢驗(yàn)。它是多個(gè)行業(yè)和應(yīng)用中受到質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室信賴的系統(tǒng)之一。
多功能測(cè)量能力
SpecMetrix®高級(jí)實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)是一個(gè)極其多功能的系統(tǒng),允許用戶測(cè)量幾乎任何涂層或涂覆層。
· 濕涂層或干涂層
· 清晰、著色或有色涂層
· 適用于任何基材的涂層,幾乎適合任何行業(yè),包括柔性包裝、汽車和工業(yè)
· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時(shí)測(cè)量單層或雙層涂層,或亞微米級(jí)的離散層
· 模塊化設(shè)計(jì),具有從質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)車間的即時(shí)測(cè)量能力
高精度、即時(shí)測(cè)量
SpecMetrix®高級(jí)實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)在單點(diǎn)和掃描模式下提供高精度的非接觸樣品測(cè)試。它提供超精確和實(shí)時(shí)的涂層及層厚度測(cè)量,以幫助加速樣品測(cè)試、數(shù)據(jù)收集和質(zhì)量分析。
完整的涂層洞察
憑借SpecMetrix精確和創(chuàng)新的ROI增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù),用戶可以獲得樣品的完整涂層測(cè)量數(shù)據(jù)。我們的技術(shù)將允許您通過非接觸和非破壞性手段獲得涂層測(cè)量。
該技術(shù)也很安全——無(wú)放射性和無(wú)侵入性。我們的光學(xué)技術(shù)高度先進(jìn),并在整個(gè)涂層行業(yè)中得到廣泛應(yīng)用。
強(qiáng)大的SensorMetric軟件
作為測(cè)量分析的核心部分,我們用戶友好的軟件包將所有測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到Excel®中,或與工廠網(wǎng)絡(luò)接口,以便在生產(chǎn)運(yùn)行期間或之后進(jìn)行SPC分析。
此外,我們的軟件還包括一個(gè)配方助手,幫助操作員創(chuàng)建新的涂層配方并編輯現(xiàn)有配方。
可選的系統(tǒng)配置
請(qǐng)與我們的專家團(tuán)隊(duì)討論您的配置要求。我們可以建議優(yōu)化您實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線需求的最佳系統(tǒng)。無(wú)論是離線、周期性在線還是全在線系統(tǒng)——我們都可以提供適合您需求的測(cè)量系統(tǒng)。
功能和優(yōu)點(diǎn)
· 靈活快速 – 模塊化設(shè)計(jì),具有從質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)車間的即時(shí)測(cè)量能力。
· 非接觸式 – 測(cè)量過程不接觸涂層或基材,保持樣品和部件的完整性。
· 絕對(duì)厚度測(cè)量 – 超高精度的實(shí)時(shí)涂層和層厚度測(cè)量,加速樣品測(cè)試、數(shù)據(jù)收集和質(zhì)量分析。
· 基材獨(dú)立 – 適用于透明、有色或著色基材的濕樣或干樣測(cè)量。
· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時(shí)測(cè)量單層或雙層涂層,或亞微米級(jí)的離散層。
· 無(wú)危害性 – 采用非放射性和非侵入性的ROI和EXR光學(xué)技術(shù)。
· 環(huán)保 – 非破壞性測(cè)試方法減少?gòu)U料、返工勞動(dòng)力和能源成本。
· 強(qiáng)大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包自動(dòng)將所有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到Excel®或工廠網(wǎng)絡(luò)中。
規(guī)格
應(yīng)用: 光學(xué)測(cè)試, 油墨與涂料, 涂層檢測(cè), 涂層測(cè)試
材料: 油墨和涂料
測(cè)量范圍: 0.2至250微米(涂層厚度)
精度: 涂層厚度的±1%(標(biāo)稱值)* 基于使用NIST可追蹤的厚度標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的整個(gè)測(cè)量范圍(0.2至250微米)精度驗(yàn)證
系統(tǒng)速度: 每個(gè)容器1-2分鐘,具體取決于工廠選擇的測(cè)量參數(shù)
測(cè)量速度: 每秒最多100次
溫度范圍: 0°至45°C
輸出指標(biāo): 微米、密耳、mg/in2、mg/4in2、g/m2、mg/cm2、lbs/令
操作系統(tǒng): Windows®平臺(tái)
制造: 美國(guó)制造
認(rèn)證: CE認(rèn)證、UL認(rèn)證和CSA認(rèn)證