霍爾遷移率測試儀
- 公司名稱 九域半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/18 15:50:24
- 訪問次數(shù) 119
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣,綜合 |
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霍爾遷移率測試儀產(chǎn)品描述
設(shè)備主要利用微波測試原理,非接觸式測量射頻HEMT結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體材料的方阻、遷移率及載流子濃度??蓪?shí)現(xiàn)單點(diǎn)測試,亦可以實(shí)現(xiàn)面掃描的測試功能,具有快速,無損,準(zhǔn)確等優(yōu)勢,可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測及質(zhì)量控制。
特點(diǎn)
適用于遷移率量測范圍在100cm²/V · s~3000cm²/V · s 的射頻HEMT外延片。非接觸,非損傷測試,具有測試速度快,
重復(fù)性佳,測試敏感性高,可以直接測試產(chǎn)品片等優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)參數(shù)
規(guī)格 |
描述 |
載流子遷移率測試范圍 |
100~20000 cm²/V·s |
方塊電阻測試范圍 |
100-3000 Ω/sq |
載流子濃度 |
1E+11 - 1E+14 |
載流子遷移率動態(tài)重復(fù)性 |
≤2% |
載流子遷移率靜態(tài)重復(fù)性 |
≤1% |
載流子遷移率測試準(zhǔn)確性 |
±10% |
方塊電阻測試動態(tài)重復(fù)性 |
≤2% |
方塊電阻靜態(tài)重復(fù)性 |
≤1% |
方塊電阻測試準(zhǔn)確性 |
±10% |
測試樣品允許厚度 |
200-1500 μm |
測試樣片尺寸 |
2”- 8” |
磁感應(yīng)強(qiáng)度 |
1.0T可刪除可反轉(zhuǎn) |
軟件功能 |
自動輸出包含Mapping,二維等高線圖3D圖的報(bào)告 |
自動傳送測試能力 | 可選配 |
微波-霍爾法測試半導(dǎo)體方阻及載流子遷移率的原理
原理:
利用微波源發(fā)射微波通過波導(dǎo)將微波傳輸至測試樣品表面,在磁場作用下具有不同遷移率的樣品對微波的反射效果不同,
通過探測反射的微波功率再將其轉(zhuǎn)化為對應(yīng)的電導(dǎo)張量,從而建立模型可以計(jì)算出HEMT 結(jié)構(gòu)的載流子濃度和遷移率。
微波-霍爾法測試半導(dǎo)體方阻核心算法相關(guān)性
對應(yīng)信號和方阻值得擬合曲線,如下圖所示:
遷移率Mapping5點(diǎn)測試報(bào)告
報(bào)告時(shí)間 | 2023/08/17/ 11:43 | 測試樣本數(shù) | 5 |
分析時(shí)間 | 2023/08/17/ 11:30 | **遷移率 | 1852.68 |
操作員ID | admin | 最小遷移率 | 1794.41 |
襯底設(shè)置 | test | 平均遷移率 | 1813.35 |
襯底厚度 | 500μm | 標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 21.3136 |
尺寸規(guī)格 | 100mm | 相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 1.1754% |
非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀,方阻測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法高低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀,表面光電壓儀JPV\SPV。為碳化硅、硅片、氮化鎵、氧化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案。
憑借先進(jìn)的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品線,已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導(dǎo)體專用設(shè)備提供商,產(chǎn)品得到眾多國內(nèi)外主流半導(dǎo)體廠商的認(rèn)可,并取得良好的市場口碑。主要應(yīng)用領(lǐng)域:碳化硅測試、氮化鎵測試、晶圓硅片測試、氧化鎵測試、襯底和外延廠商、光伏電池片測試。
霍爾遷移率(Hall mobility)是指Hall系數(shù)RH與電導(dǎo)率σ的乘積,即│RH│σ,具有遷移率的量綱, 故特別稱為Hall遷移率。表示為μH =│RH│σ