增駿XAD-200膜厚儀 X射線熒光測(cè)厚儀
- 公司名稱 上海增駿實(shí)業(yè)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/10/18 10:05:16
- 訪問次數(shù) 149
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存儲(chǔ)記錄儀，溫度記錄儀，數(shù)據(jù)采集器，波形記錄儀，數(shù)字示波器，直流穩(wěn)壓電源，LCR測(cè)試，電阻測(cè)試儀，功率計(jì)，風(fēng)速儀
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,汽車,電氣,綜合 |
增駿XAD-200膜厚儀 X射線熒光測(cè)厚儀介紹：
增駿XAD-200膜厚儀 X射線熒光測(cè)厚儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測(cè)及成分分析，搭載全自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移，實(shí)現(xiàn)無人值守多點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量軟件置入先進(jìn)的EFP算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
增駿XAD-200膜厚儀/臘厚分析儀器產(chǎn)品特點(diǎn)：
核心EFP算法，可對(duì)多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準(zhǔn)檢測(cè)第一層Ni和第三層Ni的厚度）
配備全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)無人值守，對(duì)成百上千個(gè)樣品進(jìn)行全自動(dòng)檢測(cè)
涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）
成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）
RoHS、鹵素有害元素檢測(cè)
人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
標(biāo)配四準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
配有微光聚集技術(shù)，最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于10%
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