IONOPTIKA GCIB-40 離子源系統(tǒng)

簡介：

GCIB 40是一種40 kV氣體團簇離子束，產(chǎn)生團簇離子聚焦束，用于需要對分子離子敏感的分析應(yīng)用。 

GCIB 40在較大程度地減少碎片和從表面去除完整分子方面具有優(yōu)異的處理能力。在40千伏電壓下工作的GCIB 40提供了優(yōu)異的電離產(chǎn)率，進一步增強了分子信號。 

GCIB 40具有可選擇的簇大小，從單體到10000多個，斑點大小小于3µm，是分析完整分子離子的強大工具，具 有高空間分辨率。

可在J105 SIM上使用，或作為選定第三方儀器的升級。

主要參數(shù)：

• 主要應(yīng)用	分析
  光斑尺寸	3 µm
  掃描范圍	0.9 x 0.9 mm
  能耗范圍	10 – 40 kV
  電流范圍	200 nA
  法蘭至機頭長度	168 ± 5 mm
  推薦工作距離	25 mm
  電源裝置	6U x 19’’ rack mountable unit
  電源要求	110-240VAC 13A 50/60Hz
  軟件要求	PC running Windows 10 or later
  集成法蘭規(guī)格	NW 63 CF

• 
  

特點:  

◇  40 kV氣體團簇離子束，光斑尺寸為3µm；

◇  實時集群測量和調(diào)整；

◇  從單體到>10000的可選簇；

◇  使用一系列氣體運行，包括Ar、CO2、Ar/CO2混合氣體；

◇  水源團簇升級可用；

應(yīng)用技術(shù)： 

由于離子束和分子信號的丟失，有機樣品的SIMS分析通 常會導(dǎo)致碎片。使用GCIB，可以減少損傷，以便對材料進行分析和深度剖面。然而，在近束能量（<40 kV）下，GCIB的二次離子產(chǎn)額可能較低。在更高的能量下操作會產(chǎn)生更高的二次離子產(chǎn)率，同時仍然保持低損傷特性。

下圖顯示了在分析有機樣品時，離子產(chǎn)額如何與束流能量成比例。盡管一次離子劑量保持不變，但來自Irganox  1010薄膜的二次離子信號從20kV到40kV一次束能量增加了五倍以上。 同時，在所有的光束能量中，碎片幾乎保持不變。