JW-BK222型 氮化硅比表面測(cè)定儀
精微高博是氮化硅比表面測(cè)定儀的廠商,精微高博一并榮獲中國(guó)*測(cè)試證書(shū),*及CE認(rèn)證并且還有*的產(chǎn)品是通過(guò)**
精微高博比表面儀具有兩個(gè)獨(dú)立分析站，兩個(gè)樣品同時(shí)測(cè)試，效率提高一倍，控制和測(cè)試精度達(dá)*水平

功能
比表面測(cè)定：    BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面，Langmuir比表面，外表面測(cè)定；
BJH孔徑分布測(cè)定：    總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；
微孔常規(guī)分析：    微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、D&R、MP等）
真密度測(cè)定

技術(shù)參數(shù)
原理方法：  低溫氮吸附，靜態(tài)容量法
吸附氣體：  高純氮?dú)?，也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
極限真空：  4 - 6.7×10-2Pa （3- 5×10-4   Torr）
氮?dú)夥謮海?nbsp; 4×10-5 – 0.995
控制精度：  測(cè)試壓力點(diǎn)控制zui小間隔可小于0.1 KPa （0.75  Torr）
測(cè)試范圍：  比表面  ≥ 0.01 M2/g，無(wú)規(guī)定上限
                           孔徑  0.35 - 400 nm
測(cè)試精度：  ≤±2%
測(cè)試效率：  雙工作站，測(cè)試效率提高一倍，多點(diǎn)BET比表面測(cè)定，每樣平均15min
                          孔徑分析兩個(gè)樣品同時(shí)測(cè)試，效率也提高一倍
預(yù) 處 理：  兩個(gè)樣品同位處理，溫度50-400℃，±1℃
軟件：  BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等

真密度測(cè)試：重復(fù)性精度0.02%

特色
    ◎  比表面儀具有雙工作站，測(cè)試效率提高一倍，多點(diǎn)BET比表面測(cè)定，每樣平均15min
    ◎  比表面儀具有國(guó)內(nèi)*通過(guò)*技術(shù)鑒定的產(chǎn)品，控制和測(cè)試精度達(dá)到*水平；
    ◎  比表面儀具有*的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù)，超微粉樣品也不會(huì)被抽飛；
    ◎  比表面儀具有*的多途徑液氮面控制與校正技術(shù)，連續(xù)測(cè)試10小時(shí)也不需添加液氮；
    ◎  比表面儀具有完善的標(biāo)準(zhǔn)等溫線數(shù)據(jù)庫(kù)和規(guī)范的分析方法，微孔常規(guī)測(cè)試技術(shù)國(guó)內(nèi)；
    ◎  比表面儀具有軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實(shí)時(shí)顯示樣品的吸、脫附壓力變化及平衡過(guò)程；
    ◎  比表面儀具有實(shí)驗(yàn)全程自動(dòng)化、智能化控制，長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行*可以無(wú)人職守。

靜態(tài)容量法比表面測(cè)試儀特點(diǎn)之真密度測(cè)試：
技術(shù)參數(shù)：
     JW-BK系列靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀，適用于各種粉體材料、固體材料等的真密度分析，*的高精度真密度測(cè)試功能，測(cè)試時(shí)間不超過(guò)3分鐘/次，連續(xù)測(cè)試次數(shù)用戶可以自行定義，zui高次數(shù)可達(dá)10次。
★ 重復(fù)性：± 0.015 %；
★ 精確度：± 0.02 %；
★ 測(cè)試分辨率：0.00001 g/cm3

公司榮譽(yù)
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中關(guān)村*協(xié)會(huì)理事單位
中國(guó)分析測(cè)試協(xié)會(huì)會(huì)員單位
北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)理事單位
*受*專家進(jìn)行產(chǎn)品鑒定的企業(yè)
歐盟安全體系認(rèn)定證書(shū)
中國(guó)計(jì)量研究院儀器校準(zhǔn)證書(shū)
北京市可引進(jìn)人才進(jìn)京落戶單位
公司的核心價(jià)值
發(fā)展；尊重人才與創(chuàng)新；以服務(wù)客戶為己任。