X射線測厚儀(XRF-2000)
X-射線鍍層測厚儀的特征:
1.可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
2.可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇微小面積以進(jìn)行鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。
3.備有250個(gè)以上的鍍層厚度測量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測厚儀(全新*)
XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能*,而且價(jià)錢*,同比其他牌子相同配置的機(jī)器,XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整。超大/開放式的樣品臺(tái),可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的??蓽y量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍:鈦(Ti)–鈾(U)原子序 22–92.
準(zhǔn)直器:固定種類大?。嚎蛇x圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動(dòng)種類大?。嚎蛇x圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng):DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器,惠普彩色打印機(jī)
綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計(jì)功能