OCS X-射線粒子掃描儀 (XP7) 能檢測出高度透明和不透明顆粒中的金屬缺陷，從而提高聚合物的產品質量。XP7測量系統中創(chuàng)新的X射線技術可實時分析粒子流的圖像。
OCSX-射線粒子掃描儀(XP7)能檢測出高度透明和不透明顆粒中的金屬缺陷，從而提高聚合物的產品質量。XP7測量系統中創(chuàng)新的X射線技術可實時分析粒子流的圖像。由于金屬和聚合物對X射線的吸收不同，嵌入的50微米以上的金屬顆?？杀粰z測出來。缺陷顆粒被一個多軌道空氣噴嘴系統分揀出來。
可測試的原材料
■高透明粒子
■不透明粒子
X-射線粒子掃描儀(XP7)特點
■高分辨率的X射線圖像
■可檢測到的zui小缺陷尺寸：50µm
■處理量可達600公斤/小時,根據具體材料性能差異而不同
■符合設備全面保護的技術要求
■結果實時可視化顯示
■用于分揀缺陷顆粒的多軌道空氣噴嘴系統
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