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貨物所在地:上海上海市
所在地: 德國
更新時間:2024-06-15 21:00:07
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OCS X-射線粒子掃描儀 (XP7) 能檢測出高度透明和不透明顆粒中的金屬缺陷,從而提高聚合物的產(chǎn)品質(zhì)量。XP7測量系統(tǒng)中創(chuàng)新的X射線技術(shù)可實時分析粒子流的圖像。由于金屬和聚合物對X射線的吸收不同,嵌入的50微米以上的金屬顆粒可被檢測出來。缺陷顆粒被一個多軌道空氣噴嘴系統(tǒng)分揀出來。
可測試的原材料
■高透明粒子
■不透明粒子
X-射線粒子掃描儀 (XP7) 特點
■高分辨率的X射線圖像
■可檢測到的zui小缺陷尺寸:50 µm
■處理量可達(dá)600公斤/小時, 根據(jù)具體材料性能差異而不同
■符合設(shè)備全面保護(hù)的技術(shù)要求
■結(jié)果實時可視化顯示
■用于分揀缺陷顆粒的多軌道空氣噴嘴系統(tǒng)
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