測(cè)量功能

測(cè)量參數(shù)

|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR

選件001

增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測(cè)量

測(cè)量電路形式

串聯(lián)和并聯(lián)

數(shù)學(xué)功能

偏差和百分偏差

測(cè)試電纜長(zhǎng)度

0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)

測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù)

測(cè)試頻率

100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz

選件002

增加20kHz測(cè)試頻率

頻率精度

±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)

輸出阻抗

100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）

交流測(cè)試信號(hào)電平

20mV~1Vrms,以5mVrms分檔

精度

±（10%+10mV)

內(nèi)部直流偏置

電平

1.5和2V；精度：±（5%+2mV)

外部直流偏置

0~+2.5V

測(cè)量范圍

參數(shù)

測(cè)量范圍

|Z|,R,X

1mΩ-100MΩ

|Y|,G,B

10nS-1000S

C

1pF-1F

L

10nH-100kH

D

0.0001-9.9999

Q

0.1-9999.9

θ

-180°~+180°

DCR

1mΩ-100MΩ

N

0.9-200（待定）

L,M

1μH-100H（待定）

Δ%

-999.99%-+999.99%

測(cè)量精度：

±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL)

測(cè)量時(shí)間

模式

時(shí)間（典型值）

短

25ms

中等

65ms

長(zhǎng)

500ms

測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器：

電壓和電流

前端保護(hù)：

當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。zui大電容器電壓為；在
Vmax≤250V時(shí)，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時(shí)，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。

顯示數(shù)字：

3，4或5位（可選擇）

修正功能：

開路/短路誤差為0：

消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差

負(fù)載：

利用一個(gè)已校器件作為參考來改善測(cè)量的精度

比較功能：

對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果

接觸檢查功能：

可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms

其它功能

存儲(chǔ)/調(diào)用：

可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置

連續(xù)存儲(chǔ)功能：

若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來（在23°±5℃下≦72小時(shí)）

GPIB接口

所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息

處理器接口

所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測(cè)量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā)