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          上海巨納科技有限公司>>光學(xué)顯微鏡>>激光粒度分析儀>>HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

          HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

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          • HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

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          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 型號
          • 品牌 HORIBA/堀場
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
          • 產(chǎn)品資料 查看pdf文檔
          • 所在地 上海市

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          更新時間:2024-06-04 14:25:22瀏覽次數(shù):3254

          聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

          產(chǎn)品簡介

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 分散方式 干濕法分散
          價格區(qū)間 80萬-100萬 儀器種類 動態(tài)光散射
          應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,能源    
          動態(tài)光散射粒徑分布測定裝置新型號,高靈敏度、高精度的測量;*表征單一體系納米尺度粒子;*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。
          主要應(yīng)用范圍為:陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨

          詳細(xì)介紹

          HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀



          動態(tài)光散射粒徑分布測定裝置新型號,高靈敏度、高精度的測量;*表征單一體系納米尺度粒子;*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。
          主要應(yīng)用范圍為:陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨


          粒子直徑測定:
          超寬動態(tài)光散射范圍:0.3nm~8000nm
          通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關(guān)器,實現(xiàn)高性能化
          在單一納米粒子光學(xué)系統(tǒng)中,采用更低雜散光90度檢測光學(xué)系統(tǒng)
          雙光路系統(tǒng)(90度和173度)適用于更寬更濃度范圍的樣品測量,可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等濃度樣品的測定


          產(chǎn)品特點:
          可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量
          樣品濃度從PPM到百分之幾十,SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定
          HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池,可以測定僅100uL的Zeta電位
          廣泛應(yīng)用于膠制粒子、機能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定
          取樣后,僅需按測定開始按鈕即可,操作簡單


          粒子直徑分布測定圖例

          溶菌酶(卵清蛋白) 醋酸緩沖劑pH4.3              鹽酸硫胺素(維生素B1鹽酸鹽)
          分子量:約14000                                              分子量:337
          濃度:0.1mg/ml                                               濃度:300mg/ml
          平均直徑:4.0nm  
                    平均直徑:0.5nm


          Zeta電位


          NIST SRM1980 α-FeOOH   電泳遷移率:2.53±0.12umcm/Vs
          <測定結(jié)果>電泳遷移率:2.53umcm/Vs,Zeta電位:32.9mV

          LUDOX TM SiO2,0.01mol/L KCI
          <測定結(jié)果>Zeta電位:-38.3mV



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