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更新時(shí)間：2024-09-29 21:00:07
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高靈敏度薄膜涂層測厚儀特點(diǎn)
使用革命性的紅外反射吸收光譜技術(shù)，
能夠測量低至單層薄膜的厚度，
它的測量斑點(diǎn)較小可到3x28mm，
非常適合整個(gè)表面的薄膜厚度測量繪制。
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非常適合整個(gè)表面的薄膜厚度測量繪制。
高靈敏度薄膜涂層測厚儀特點(diǎn)
使用革命性的紅外反射吸收光譜技術(shù)，
能夠測量低至單層薄膜的厚度，
它的測量斑點(diǎn)較小可到3x28mm，
非常適合整個(gè)表面的薄膜厚度測量繪制。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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