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更新時(shí)間:2024-09-29 21:00:07
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曲面表面殘留測量儀特點(diǎn):
適合測量各種金屬表面,玻璃表面等材料表面上的有機(jī)物薄膜厚度表面殘留量,可測薄膜厚度下限達(dá)到1-2 µg/cm2 。
它不僅可以測量平板平面有機(jī)物殘留量厚度,還可以測量諸如氣缸,活塞,軸承等不規(guī)則平面的油膜厚度,也適合測量小尺寸樣品的油膜厚度測量和表面殘留量測量。
采用的FTIR光譜技術(shù),高精度地探測物體表面的有機(jī)化合物,是目前范圍內(nèi)這一技術(shù)的靈敏度較高的表面檢測儀器。
能夠?qū)崟r(shí)分析復(fù)雜表面,手持式測量探頭放置到表面上就可以直接測量,使用非常簡易方便。
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