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產(chǎn)品簡介
MC022-CH-1-S型薄膜測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。 本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標準。
詳細介紹
CH-1-S薄膜測厚儀/C H-1-SY壓敏膠粘帶測厚儀
一、 概述
MC022-CH-1-S型薄膜測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。 本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標準。
二、主要參數(shù)
1. 量程：0-1mm 分度值：0.001mm
2. 上測頭曲率半徑：15-50mm
3. 測頭對試樣施加負荷我：0.1-0.5N
4. 測量精度：100vm以內(nèi)＜1vm
100-250vm＜2vm
250vm＜3vm