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網(wǎng)址： www.longmarchinc.com
商鋪： http://m.facexiu.com/st119056/
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供求商機(jī)
NanoCalc-2000-UV/VIS/NIR-膜厚測(cè)量?jī)x
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2024年11月23日
- 2025年5月23日
- 國外
- 美國
- 753次
【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
NanoCalc-2000是一種用戶可配置的膜厚測(cè)量系統(tǒng)，它利用分光光譜反射儀來精確地測(cè)量光學(xué)或非光學(xué)薄膜厚度，可廣泛用于半導(dǎo)體、醫(yī)療和工業(yè)生產(chǎn)中。
【詳細(xì)說明】
NanoCalc-2000-UV/VIS/NIR膜厚測(cè)量?jī)x的原理：
利用白光干涉測(cè)量法的原理，NanoCalc-2000用一個(gè)寬光譜的光源來測(cè)得不同波長(zhǎng)的反射數(shù)據(jù)，由于反射率n和消光系數(shù)k隨膜厚的不同而變化，NanoCalc-2000根據(jù)這一特性來進(jìn)行曲線擬合從而求得膜厚。在NanoCalc-2000中，不同類型材料的相應(yīng)參數(shù)通過不同的模型來描述，從而保證了不同類型材料膜厚測(cè)量的準(zhǔn)確性。
NanoCalc-2000-UV/VIS/NIR膜厚測(cè)量?jī)x的特點(diǎn)：
- UV/VIS/NIR高分辨率的配置
- 測(cè)量準(zhǔn)確度在1nm，精度在0.1nm
- 可測(cè)量4層薄膜的任意3層
- 薄膜測(cè)量zui小可至10nm，zui大可至400um
- 可測(cè)量zui小1nm厚的透明金屬層
- 提供用于復(fù)雜外形材料測(cè)量的試驗(yàn)臺(tái)及附件
- 對(duì)表面缺陷和光滑度不敏感
- 龐大的材質(zhì)數(shù)據(jù)庫，保證各種材料的精確測(cè)量
NanoCalc-2000-UV/VIS/NIR膜厚測(cè)量?jī)x的技術(shù)參數(shù)：
