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我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、液相色譜儀（LC）、能譜儀（EDS）、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測設(shè)備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、、商品檢驗、質(zhì)量檢驗、人體微量元素檢驗等等。總之銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測。

檢測鋼鐵元素成分含量（含各種合金，不銹鋼等），簡單方便的是X熒光光譜儀，精度更高穩(wěn)定性更好的是實驗室使用的專業(yè)測試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀，介紹如下：

測試金屬含量儀器

儀器介紹：

  手持式儀器簡介：

合金分析儀*性能

. 超的檢測精度度。

. 超的穩(wěn)定性，超的重復性。

. 優(yōu)異的線性相關(guān)性。

. 采用了*重新設(shè)計的射線管、無壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。

. 結(jié)構(gòu)更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，對于某些應(yīng)用信號提了~40%.

. 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設(shè)計，儀器頂部有的槽式散熱裝置，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定，從而故障率極低。

. SDD X射線探測器具有驚人的計數(shù)率,達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍。

. 可測試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素。

. 內(nèi)置的氣壓計可以糾正氣壓，氣壓計壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整，從而是檢測值更加準確，儀器預設(shè)海平面，客戶在不同的海拔度測試，無需再次校準。

. 內(nèi)置的加速器可探測運動和震動，使儀器不用時待機，拿起時工作。

. 智能接駁座可對額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時充電并顯示充電進度，接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù)，可讓儀器即時標準化，儀器隨時待命狀態(tài)。

. 儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機，在系統(tǒng)運作中拔掉電池，有超過30秒的時間可以插入一個新電池。

. 儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計，堅固耐用，手柄軟膠設(shè)計，手感好,更適合長時間使用。

. 儀器具有很好的平衡性，在測試時能立于工作臺上，不需要用手扶持，一鍵式按鈕設(shè)計，即使長時間操作也無疲勞感。

合金分析儀技術(shù)性能

. 真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。

. 只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面，無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定合金等級。

. 被檢測的樣品的對象可以是合金塊、合金片、合金線、合金渣、合金粉。

. 不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認。

. 可延伸的探頭設(shè)計能對管道內(nèi)部、焊縫,等位置進行檢測。

. 可檢測溫度達450℃的溫材料。

. 可現(xiàn)場在庫中添加,編輯,刪除合號。

. 快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識別合金元素。

. 用戶化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場完成，用戶化windows CE僅保留有基本的windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能，使程序更具靈活性。

. 無需借助電腦，可在現(xiàn)場隨意，查看，放大相關(guān)元素的光譜圖。

. 防塵,防霧,防水：一體機設(shè)計，軟膠與塑膠部件凸槽 & 凹槽 構(gòu)造設(shè)計，使儀器具有很好的三防性能，可承受e劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚工裝場地也能正常工作。

. 腰帶、、肩帶能將儀器牢牢地固定在你的腰部，可在野外活動自如。

. 更的檢測精度，多次測試的平均值統(tǒng)計功能可有效地提儀器的檢測精度。

. 超大的圖標顯示，菜單式驅(qū)動，微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡便。

. 電磁干擾被屏蔽，即使在靠近或雙向無線通信裝置處也能正常工作。

合金分析儀元素分析范圍

可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。

合金分析儀用途及應(yīng)用

用于現(xiàn)場，無損，快速，準確分析檢測合金元素和合號的識別。

合金材料鑒別（PMI）

來料檢驗；庫存材料管理；安裝材料復檢

便攜式XRF 合金分析儀用以確保生產(chǎn)設(shè)備與管道中所使用的合金零部件與設(shè)計要求的規(guī)格**。

便攜式XRF 合金分析儀攜帶方便，使用簡單，分析速度快，精度，其結(jié)果直接顯示合號、金屬成分的百分比含量，從而使便攜式XRF 合金分析儀成為合金材料鑒別的*di一供應(yīng)商。

金屬廢料回收

廢舊金屬的回收、再利用需要Innov-X 便攜式XRF 合金分析儀，確保對大量繁雜多樣的合金種類及材料品質(zhì)，進行現(xiàn)場快速準確的分析檢測。

質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）

在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。Innov-X 便攜式XRF 合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機制造商的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的儀器.

合金分析儀技術(shù)規(guī)格

直讀光譜儀簡介：

型全譜直讀光譜儀采用標準的設(shè)計和制造工藝技術(shù)，應(yīng)用了的CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨設(shè)值火花個數(shù)，與光譜儀yi流技術(shù)同步，采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設(shè)計合理，操作簡單易學，具有數(shù)據(jù)，長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點。

應(yīng)用領(lǐng)域

冶金、鑄造、機械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析。

可檢測基體

鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。

主要技術(shù)參數(shù)

v  光學系統(tǒng)：帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學系統(tǒng)

v  波長范圍：140~680nm

v  光柵焦距：401mm

v  探 測 器：性能CMOS陣列/CCD陣列

v  光源類型：數(shù)字光源，能預燃技術(shù)（HEPS）

v  放電頻率：100-1000Hz

v  放電電流：大500A

v  工作電源：AC220V 50/60Hz 1000W

v  檢測時間：依據(jù)樣品類型而定，一般20S左右

v  電極類型：鎢材噴射電極

v  分析間隙：4mm

v  其他功能：真空，溫度，軟件自動控制；壓力，通訊監(jiān)測

主要特點

v  性能光學系統(tǒng)

采用精度的CMOS元件可測定非金屬元素如C、P、S、As、B、N以及各種金屬元素含量；測定結(jié)果，重復性及長期穩(wěn)定性hao。

v  自動光路校準

自動光路校準，光學系統(tǒng)自動進行譜線掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作；

儀器自動識別特定譜線與原存儲線進行對比，確定漂移位置，找出分析線當前的像素位置進行測定。

v  插拔式透鏡設(shè)計

真空光學系統(tǒng)采用*的入射窗與真空隔離，可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進行操作，光學透鏡采用插拔式透鏡結(jié)構(gòu)，日常清洗維護方便快捷。

v  真空防返油技術(shù)

多級隔離的真空防返油技術(shù)，采用真空壓差閥門保證真空泵不工作時真空光室與真空*隔離；中間增加了真空濾油裝置，確保真空泵中油不進入真空室，保障CMOS檢測器及光學元件在可靠環(huán)境中工作。

v  開放式激發(fā)臺

開放式激發(fā)臺機靈活的樣品夾設(shè)計，以滿足客戶現(xiàn)場的各種形狀大小的樣品分析；配合使用小樣品夾具，線材低分析可達到3mm。

v  噴射電極技術(shù)

采用的噴射電極技術(shù)，使用鎢材料電極，在激發(fā)狀態(tài)下，電極周圍會形成氬氣噴射氣流，這樣在激發(fā)過程中激發(fā)點周圍不會與外界空氣接觸，提激發(fā)精度；配上du特氬氣氣路設(shè)計，大大降低了氬氣使用量，也降低客戶使用成本。

v  集成氣路模塊

氣路系統(tǒng)采用氣路模塊免維護設(shè)計，替代電磁閥和流量計，電極自吹掃功能，為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境。

v  數(shù)字化激發(fā)光源

數(shù)字激發(fā)光源，采用為的等離子激發(fā)光源，超穩(wěn)定能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品；可任意調(diào)節(jié)光源的各項參數(shù)，滿足各種不同材料的激發(fā)要求。

v  速數(shù)據(jù)采集

儀器采用性能CMOS檢測元件，具有每塊CMOS單獨超速數(shù)據(jù)采集分析功能，并能自動實時監(jiān)測控制光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊的運行狀態(tài)。

v  以太數(shù)據(jù)傳輸

計算機和光譜儀之間使用以太網(wǎng)卡和TCP/IP協(xié)議，避免電磁干擾，光纖老化的弊端，同時計算機和打印機*外置，方便升級和更換；可以遠程監(jiān)控儀器狀態(tài)，多通路操控系統(tǒng)控制和監(jiān)控所有的儀器參數(shù)。

v  預制工作曲線

備有不同材質(zhì)和牌號的標樣庫，儀器出廠時工廠預制工作曲線，方便安裝調(diào)試和及時投入生產(chǎn)；根據(jù)元素和材質(zhì)對應(yīng)的分析程序而稍有差異，激發(fā)和測試參數(shù)儀器出廠時已經(jīng)調(diào)節(jié)好，根據(jù)分析程序可自動選擇優(yōu)測試條件。

v  分析速度快

分析速度快，僅需20秒即可完成一次分析；針對不同的分析材料，通過設(shè)置預燃時間及測量時間，使儀器用短時間達到優(yōu)的分析效果。

v  多基體分析

光路設(shè)計采用羅蘭圓結(jié)構(gòu)，檢測器上下交替排列，保證接收全部的譜線，不增加硬件設(shè)施，即可實現(xiàn)多基體分析；便于根據(jù)生產(chǎn)的需要增加基體及材料種類和分析元素（無硬件成本）。

v  軟件中英文系統(tǒng)

儀器軟件操作簡單，*兼容于Windows7/8/10系統(tǒng)。

測試金屬含量儀器