目錄:深圳市天創(chuàng)美科技有限公司>>光譜>>X熒光光譜儀>> X射線熒光光譜儀
分析含量范圍 | 1-99.99% | 價格區(qū)間 | 10萬-30萬 |
---|---|---|---|
能量分辨率 | 140eV | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
儀器種類 | 臺式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 文體,電子,印刷包裝,紡織皮革,冶金 |
元素分析范圍 | 多元素 | 重復(fù)性 | 0.1% |
X射線熒光光譜儀:
應(yīng)對有害元素檢測、油品分析、礦石分析、合金分析、電鍍鍍層、環(huán)境分析的產(chǎn)品,目前正服務(wù)于各大重要部門。
儀器性能:
檢測精度高。
高的穩(wěn)定性,高的重復(fù)性。
優(yōu)異的線性相關(guān)性。
銠元素陽級本身就提高了2倍檢測鎂元素的結(jié)果。
大型SDD硅漂移探測器的使用將從鎂到硫元素的檢測下限/精度提高了四倍。
大型SDD硅漂移探測器,提高了五倍銀元素的檢測下限,兩倍鎘元素的檢測下限
采用了*重新設(shè)計的射線管、無高壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。
結(jié)構(gòu)更精密,縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離,對于某些應(yīng)用信號提高了~40%.
新的濾波輪更輕、更薄,在位置上更加接近被測樣品,具有8 個濾波器,可適應(yīng)高的配置,不同的元素采用不同的濾波器,產(chǎn)生好的分析效果。
超過1/3的機體采用鋁合金外殼設(shè)計,儀器頂部有專用的槽式散熱裝置,整個體系使散熱非常有效,延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定,從而故障率極低。
SDD X射線探測器具有驚人的計數(shù)率,高達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數(shù)據(jù)的能力高10倍,進一步提高了Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素性能。
儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機,在系統(tǒng)運作中拔掉電池,有超過30秒的時間可以插入一個新電池。
儀器開機并不需要標(biāo)準(zhǔn)化,可以直接測試,標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項。
儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計,堅固耐用,手柄軟膠設(shè)計,手感好,更適合長時間使用。
儀器具有很好的平衡性,在測試時能立于工作臺上,不需要用手扶持,一鍵式按鈕設(shè)計,即使長時間操作也無疲勞感。
工業(yè)級可觸摸的顯示屏與主機一體化密封設(shè)計,可承受野外惡劣的工作環(huán)境。密封的儀器可在雨天、塵土飛揚的礦山環(huán)境中長時間正常工作。
儀器技術(shù)性能:
真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準(zhǔn)確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。
只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面,無須長時間等待即可現(xiàn)場確定合金等級。
被檢測的樣品的對象可以是合金塊、合金片、合金線、合金渣、合金粉。
不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細(xì)絲也能立即辨認(rèn)。
式可延伸的探頭設(shè)計能對管道內(nèi)部、焊縫,等位置進行檢測。
可檢測溫度高達450℃的高溫材料。
可現(xiàn)場在庫中添加,編輯,刪除合*號。
全球快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識別合金元素。
用戶化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場完成,用戶化windows CE僅保留有windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能,使程序更具靈活性。
無需借助電腦,可在現(xiàn)場隨意查看,放大相關(guān)元素的光譜圖。
防塵,防霧,防水:一體機設(shè)計,軟膠與塑膠部件凸槽 & 凹槽 構(gòu)造設(shè)計,使儀器具有很好的三防性能,可承受惡劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚等場地也能正常工作。
電磁干擾被屏蔽,即使在靠近手機或雙向無線通信裝置處也能正常工作。
儀器元素分析范圍:
可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。
儀器的分析模式與元素種類 | |
分析模式 | 分析元素 |
元素分析范圍 | 從22號元素鈦到94號元素PU范圍內(nèi)的31種基本元素,在以上范圍內(nèi),可以根據(jù)客戶需要更換其他元素。 |
Alloy Beam1模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。 |
Alloy Beam2模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
儀器技術(shù)規(guī)格:
項目 | 分析儀器 |
環(huán)境要求 | 環(huán)境濕度0~95%;環(huán)境工作溫度-20℃ ~50℃;橙黃、黑色、銀白色相間 |
激發(fā)源 | 大功率微型直板電子X射線管,內(nèi)置15kV~35kV多段可選擇的電壓;無高壓電纜、無射頻噪聲、更好的X射線屏蔽、更好的散熱。 |
射線管靶材 | Rh、Au靶 |
X射線探測器 | 超大型SDD硅漂移探測器 |
冷卻系統(tǒng) | 采用了Peltier恒溫冷卻系統(tǒng),控測器在-35℃下工作,保證儀器的檢測精度,和不受外界溫度的影響 |
濾波器 | 八個濾光片可自動切換 |
電壓、電流 | 電壓15~35kv,電流200ua |
光譜束 | 兩個光束段,不同的元素采用不同的電壓與電流,產(chǎn)生分析效果 |
主機供電系統(tǒng) | 2個鋰電池,110v/220通用充電器, 充電器適配器,智能接駁座 |
智能接駁座 | 可對額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時充電并顯示充電進度,接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù),可讓儀器即時標(biāo)準(zhǔn)化,儀器隨時待命狀態(tài) |
開機換電 | 儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機,時間可達30秒 |
標(biāo)準(zhǔn)化 | 儀器開機并不需要標(biāo)準(zhǔn)化,可以直接測試,標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項 |
顯示器固定方式 | 一體機設(shè)計,整機連體構(gòu)造,PDA不可拆卸,可防塵,防霧,防水,故障低 |
顯示器可視性 | 顯示器無LCD高原反應(yīng),室內(nèi)低光源與強光環(huán)境下也能有優(yōu)異可視性,能耗低,比傳統(tǒng)低一半白光顯示增加各種環(huán)境的顯示性 |
數(shù)據(jù)顯示 | 百分比(%)顯示元素含量,元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動態(tài)顯示化學(xué)成份 |
數(shù)據(jù)存儲 | ROM128M、RAM128M、2G SD卡,可存儲205000組數(shù)據(jù)與光譜 |
數(shù)據(jù)傳輸 | USB電纜、無線藍(lán)牙進行數(shù)據(jù)傳輸,文件可采用TXT,EXCEL格式輸出。 |
處理器CPU | 532MHz CPU 、Freescal,ARM1136-MX31處理器,浮點運算方式,速度大幅提高 |
系統(tǒng)CPU外設(shè) | 采用USB總線, I2C,GPIO, 藍(lán)牙, 加速器,實時的時鐘芯片,微型SD 存儲卡 (可存儲2GB 數(shù)據(jù)),GPIO 條帶連接到扳機和PSM |
操作系統(tǒng) | 用戶化 windows CE 6.0系統(tǒng) |
Alloy Beam1模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素 |
Alloy Beam2模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
合金建模方式 | 基本參數(shù)法,儀器在分析合金前不需要預(yù)先知道合金種類,實現(xiàn)全自動分析 |
合金種類 | 鐵合金系列、鎳基合金系列、鈷基合金系列、鈦基合金系列、銅基系列、6. 高溫合金、鉬鎢合金、鋁合金、混雜合金系列 |
合*號 | 內(nèi)置合*號351種,用戶可自定義300種合*號,能同時分析的合金651種,能分析的合金高達萬種, |
小樣品測試 | 不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細(xì)絲也能立即辨認(rèn) |
鋁合金 | 能測試Mg, Al, Si, P等元素,能識別全系列的39種鋁合*號 |
X射線熒光光譜儀
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)