【詳細說明】原 理:
JERD800雷達物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*，發(fā)射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小（納秒量級）很難確認。HBRD800系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調(diào)技術，可以準確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔，從而進一步計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。
特 點:
由于JERD800采用了先進的微處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術，雷達物位計可以應用于各種復雜工況。 “虛假回波學習”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認真實回波，獲得準確的測量結(jié)果。多種過程連接方式及天線型式，使得JERD800系列雷達物位計適于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)的測量等。 采用脈沖工作方式，雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。
| 智能雷達物位計JERD801 |
 | 應 用： 液體特別是腐蝕性液體，簡單過程條件。
zui大量程： 20m
測量精度： ±1mm
過程連接： G1?A
天線材料： PP/PTFE
過程溫度： -40--120 °C
過程壓力： -1.0--3bar
頻率范圍： 6.8GHz
信號輸出： 兩線制4--20mA/HART | |
| 智能雷達物位計JERD802 |
 | 應 用： 液體特別是腐蝕性液體，簡單過程條件。
zui大量程： 20m
測量精度： ±1mm
過程連接： PTFE翻邊法蘭
天線材料： PP/PTFE
過程溫度： -40--150 °C
過程壓力： -1.0--20bar
頻率范圍： 6.8GHz
信號輸出： 兩線制4--20mA/HART | |
| 智能雷達物位計JERD803 |
 | 應 用： 存儲容器或過程容器，過程條件復雜。
zui大量程： 35m
測量精度： ±1mm
過程連接： 法蘭316L
天線材料： 不銹鋼316L /PTFE
過程溫度： -40--250 °C
過程壓力： -1.0--40bar
頻率范圍： 6.8GHz
信號輸出： 兩線制4--20mA/HART | |
