JSX-3400R環(huán)境分析用元素分析儀、應(yīng)對(duì)EU（歐盟）電器及電子設(shè)備廢料回收（WEEE）和特定有害物質(zhì)的使用限制（RoHS）指令。
采用新式光學(xué)系統(tǒng)（正在申請(qǐng)）、高能X射線發(fā)生源、高分解能探測(cè)器，可以檢測(cè)塑料、包裝材料、顏料中鎘（Cd）、鉛（Pb）、水銀（Hg）、鉻（Cr）等特定有害物質(zhì)和砷（As）等有毒物質(zhì)，檢測(cè)精度達(dá)到ppm數(shù)量級(jí)。
塑料中極微量的鎘的分析精度達(dá)到5ppm，標(biāo)準(zhǔn)試樣的分析精度達(dá)到2ppm（日本電子（株）應(yīng)用研究中心測(cè)量值）。搭載環(huán)境分析用軟件，從檢測(cè)、分析到判斷是否合格只需單鍵就可實(shí)現(xiàn)，操作簡(jiǎn)單，非常適合檢測(cè)機(jī)關(guān)、質(zhì)保部門(mén)使用。
 

1.檢測(cè)元素范圍 Na--U。
2.X射線發(fā)生裝置5-50kV,10mA,50W，靶Rh。
3.分辨率149ev。
4.試樣艙300mm直徑X150mm高。
5.電腦操作Windows2000,標(biāo)配軟件。
（有液氮制冷和電制冷兩種）
 

1.一次性分析微量的Cd,Hg,Cr
2.分析速度快Cd40ppm 10sec.10ppm,2min.
3.單鍵完成操作。
4.配備環(huán)境分析軟件
5.靈敏度高，能做100kcps測(cè)定 

 同時(shí)也可檢測(cè)EN71 Part3中規(guī)范的八大重金屬（Pb、Cd、Hg、Cr、As、Hg、Se、Ba）