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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> MNRLE-ME03-剪切干涉測量實驗
實驗簡介:
剪切干涉法因其結(jié)構(gòu)簡單,搭建方便,已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于實際中光學(xué)系統(tǒng)波像差的檢測。RealLight™應(yīng)用數(shù)字相機(jī)采集剪切干涉條紋,通過條紋分析可以定量測量出初級球差及軸向離焦量等。本實驗適用于高校光電專業(yè)本科生《工程光學(xué)》、《光電檢測》等相關(guān)課程配套專業(yè)實驗。
實驗內(nèi)容:
1、剪切干涉測試光路搭建及調(diào)整實驗;
2、初級球差典型剪切干涉圖樣觀測實驗;
3、測量用相機(jī)系統(tǒng)標(biāo)定實驗;
4、球差鏡頭初級像差系數(shù)測量實驗;
5、測試光路軸向離焦量測量實驗。
主要設(shè)備參數(shù):
1. 光源組件:
氦氖激光器:P>1.5mW,TEM00,全保護(hù)安全高壓插頭,*關(guān)設(shè)計(安全鑰匙、按鍵)符合CE標(biāo)準(zhǔn)。
2. 測試組件:
測試鏡頭:Φ40mm,孔徑光闌Φ2~29mm。
3. 機(jī)械組件:
精密光學(xué)導(dǎo)軌:L×W=1200mm×90mm,配套滑塊、一維移動滑塊、調(diào)節(jié)支座、支桿;高精度調(diào)節(jié)鏡架穩(wěn)定性;
一維精密移動臺:行程13mm,精度0.005mm,直線性<5μm 。
4. 光學(xué)組件:
成像鏡頭:f=16mm ,F1.4;
光學(xué)平晶:Φ50mm,Tc=20mm ,平行度<2" ,面型λ/10,光潔度IV級。
5. 探測器組件:
數(shù)字CMOS相機(jī):130萬像素,像素大小5.2μm×5.2μm,USB2.0,A/D:10bit。
6. 空間濾波器組件:
40×顯微物鏡,15μm針孔,高精度三維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu),微調(diào)精度0.002mm。
7. 軟件組件:
圖像采集與保存模塊,相機(jī)標(biāo)定模塊,初級像差測試模塊,USB2.0軟件鎖。
8. 講義及快速安裝指南。
選配設(shè)備參數(shù):
1、儀器設(shè)備防塵罩:
外形尺寸:1400mm×360mm×300mm;
觀察窗材料:亞克力透明擋板。
2、計算機(jī)(基本配置)。
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