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簡(jiǎn)單介紹
測(cè)試電壓：50V~10000V
測(cè)試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增，1KV-10KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
測(cè)試電阻（阻抗）顯示zui大讀數(shù)35TΩ，顯示zui小讀數(shù)10KΩ
短路電流：3mA
實(shí)時(shí)輸出：能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗
| 美國(guó)Megger （AVO）絕緣電阻測(cè)試儀MIT1020/2的詳細(xì)介紹 |
| 美國(guó)Megger （AVO） MIT1020/2 10KV絕緣電阻測(cè)試儀（高壓兆歐表） 產(chǎn)品特點(diǎn)： ▲全新的MIT1020/2絕緣電阻測(cè)試儀是MEGGER特別設(shè)計(jì), 用來(lái)測(cè)試和維護(hù)高壓設(shè)備的*儀器。 ▲IEEE43-2000推薦使用者可以使用MIT1020/2來(lái)測(cè)試額定超過(guò)12KV的電動(dòng)機(jī)的繞組。 ▲雙路電源輸入設(shè)計(jì)：可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電，也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)所不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候，都可以來(lái)進(jìn)行測(cè)試。 ▲數(shù)字/模擬雙顯示測(cè)試結(jié)果 ▲測(cè)試電壓由50V 至10KV 可調(diào) 測(cè)試電壓在50V-1000V 的范圍里以10V（步進(jìn)）微調(diào)，1000V-10000V的范圍里以25V（步進(jìn)）微調(diào)。 ▲絕緣電阻測(cè)量測(cè)試范圍擴(kuò)展為35TΩ,用于對(duì)高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢(shì)分析等。 ▲短路電流：3mA ▲抗干擾：2mA rms ▲全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯示屏使操作者在陽(yáng)光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。 ▲絕緣電阻測(cè)試儀顯示的信息：絕緣阻值，實(shí)時(shí)測(cè)試電壓，泄漏電流，等效電容，電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí)，每次測(cè)試時(shí)LCD上還會(huì)顯示已測(cè)試時(shí)間，這就不需要在測(cè)試時(shí)額外計(jì)時(shí)。 ▲絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器，還具備絕緣測(cè)試設(shè)限告警功能。 ▲儀器上還帶有一個(gè)接地端子，使儀器能提高其精確性。 ▲儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊，方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。 ▲儀器的控制的操作都清楚的寫(xiě)在儀器隨機(jī)器附帶的說(shuō)明書(shū)里面。 產(chǎn)品功能： 內(nèi)置多種自動(dòng)測(cè)試程序： ▲IR 絕緣電阻測(cè)試、 ▲DAR 吸收比測(cè)試 （介電吸收率）、 ▲PI 極化指數(shù)測(cè)試、 ▲SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測(cè)試 ▲DD 測(cè)試 （介質(zhì)放電）） ▲測(cè)試上限擴(kuò)展：35TΩ ▲提供USB與RS232接口下載數(shù)據(jù) ▲儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器可保存測(cè)試結(jié)果:存儲(chǔ)測(cè)試電壓，預(yù)設(shè)時(shí)間，泄漏電流，絕緣電阻，極化指數(shù)，DAR，DD，等效電容， 時(shí)間常數(shù)。 產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)： 電源 95-240V，50/60 Hz 60VA 電池使用時(shí)間 在 10KV 狀態(tài)下，進(jìn)行4小時(shí)連續(xù)測(cè)試 測(cè)試電壓（DC） 1KV-10KV，每 25V 步進(jìn) 精度 ± 5% 1 TΩ （23°C） ± 20% 20 TΩ 顯示范圍 數(shù)字顯示 10 KΩ 到 35 TΩ 模擬顯示 100 KΩ 到 1 TΩ 短路電流/ 3mA 充電電流 電容充電時(shí)間 ≤5秒/µF @ 3mA 電容放電時(shí)間 放電從 10000V 到 50V ≤250 ms/µF 電容測(cè)量 10nF 到 50µF（取決于測(cè)量電壓） 電容測(cè)量精度 ± 5% ± 5nF （23°C） 電壓輸出精度 基本測(cè)試電壓的 +4% @ 1GΩ （0°C-30°C） ±25V非標(biāo)測(cè)試電壓（<500V） 測(cè)試電流范圍 0.01mA to 5mA 測(cè)量電流精度 ± 5% ± 0.2mA @ 各種電壓量程 （23°C） 抗干擾 2mA rms 主計(jì)時(shí)器量程 99分鐘59秒 導(dǎo)線 3條測(cè)試導(dǎo)線，帶絕緣夾頭 內(nèi)存容量 32KB 內(nèi)置測(cè)試程序 自動(dòng)IR，PI，DAR，DD，SV 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 存儲(chǔ)測(cè)試電壓，預(yù)設(shè)時(shí)間，泄漏電流，絕緣電阻，極化指數(shù)，DAR，DD，等效電容， 時(shí)間常數(shù) 工作溫度 儲(chǔ)存溫度 濕度 90% RH非凝固@ 保護(hù)等級(jí) IP65 安全標(biāo)準(zhǔn) 符合EN61010- 1：2001 CATIII 300V EMC 符合EN61326-1：1998 外形尺寸 重量 約7．1公斤 產(chǎn)品持有證書(shū) CE 絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試指標(biāo)名詞解釋 （PI） 極化指數(shù)測(cè)試 極化指數(shù)：在同一次試驗(yàn)中，10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。 （DAR） 感應(yīng)吸收比（誘電吸收比）測(cè)試 吸收比：在同一次試驗(yàn)中，60s時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。 （SV） 步進(jìn)電壓測(cè)試 （DD） 介質(zhì)放電（誘電體放電）
10KV系列絕緣電阻測(cè)試儀選型及功能對(duì)照表
▲絕緣電阻測(cè)試儀外殼由硬塑聚炳烯制造，由于在生產(chǎn)過(guò)程中經(jīng)過(guò)特殊處理，因此特別堅(jiān)固耐用，而且輕巧便于攜帶，符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。 （替代S1-5005、MEG-10-01） | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
