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10L32-9.9X10-A31-P-2.5-OM相控陣探頭應(yīng)用領(lǐng)域
點(diǎn)擊次數(shù)：360 發(fā)布時(shí)間：2023-8-29
10L32-9.9X10-A31-P-2.5-OM相控陣探頭應(yīng)用領(lǐng)域
小底面探頭的優(yōu)勢特性：可進(jìn)入狹窄的區(qū)域、（A00探頭的底面面積只有8 × 8平方毫米）、線纜可以從側(cè)面、背面或上面伸出、特制的小接觸面楔塊、10L16-A00用于飛機(jī)的劃痕檢測。
典型應(yīng)用A10探頭：對6 35毫米到38毫米的厚焊縫進(jìn)行手動檢測、探測缺陷并定量缺陷、檢測鑄件、鍛件、管道、管件以及各種機(jī)械加工和結(jié)構(gòu)部件，以探測出裂紋和焊縫缺陷。
相控陣技術(shù)的介紹
相控陣超聲檢測區(qū)別于其它技術(shù)的特性是可以通過計(jì)算機(jī)控制對多晶片探頭中的單個晶片進(jìn)行激勵（波幅和延遲）。通過軟件對多個壓電復(fù)合材料晶片的激勵可以生成一條聚焦的超聲聲束，方法是在發(fā)射聲束的過程中動態(tài)更改聲束的參數(shù)，如：角度、焦距和焦點(diǎn)大小。要通過相位上的積極干涉生成一條聲束，就要以極小的時(shí)間差，分別觸發(fā)探頭的多個活動晶片。同理，從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個晶片接收到的回波信號匯總之前，需對這些回波信號進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算。匯總的結(jié)果是生成一個A掃描，這個A掃描會突出顯示來自所需焦點(diǎn)的響應(yīng)信號，而弱化來自被測樣件其它部位的信號。
使用軟件控制聲束角度、焦距和焦點(diǎn)大小
要生成一條超聲聲束，就需要在差別極小的不同時(shí)間對探
頭的不同晶片進(jìn)行脈沖激勵。通過控制探頭晶片之間的時(shí)間延遲，可以生成具有不同角度、不同焦距及不同焦點(diǎn)大小的聲束。從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個晶片接收到的回波信號匯總之前，需對這些回波信號進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算。信號匯總的結(jié)果是生成一個A掃描。這個A掃描會突出顯示來自所期望焦點(diǎn)的響應(yīng)信號，而弱化來自材料其它部位的各種回波。
使用以電子方式控制的單個小巧的多晶探頭可以完成多角度檢測
常規(guī)UT檢測需要使用多種不同的探頭。而一個單個相控陣（PA）探頭則可以根據(jù)應(yīng)用的要求進(jìn)行配置，以序列方式產(chǎn)生不同的角度和焦點(diǎn)。
無需移動部件而完成高速掃查
雖然相控陣技術(shù)要對來自多晶片探頭的許多信號進(jìn)行處理，但是我們要知道：其所得到的信號是一個標(biāo)準(zhǔn)的射頻（RF）信號（或A掃描），這個信號與任何使用固定角度探頭的常規(guī)系統(tǒng)得到的信號相同。這個信號與來自常規(guī)UT系統(tǒng)的任何A掃描一樣，可被評估、處理、過濾并生成圖像?；贏掃描創(chuàng)建的B掃描、 C掃描和D掃描，也與常規(guī)系統(tǒng)生成的這類圖像一樣。它們之間的區(qū)別在于相控陣系統(tǒng)可以使用單個探頭完成多角度檢測。多路傳輸還可以在探頭不動的情況下完成掃查：聚焦聲束
由一個裝有許多晶片的長相控陣探頭的幾個晶片創(chuàng)建。然后聲束被移動（或稱多路傳輸）到其它晶片，以在不移動探頭的情況下，沿掃查軸方向?qū)ぜM(jìn)行高速掃查。這樣探頭就可以不同的檢測角度進(jìn)行一次以上的掃查。這個原理可被應(yīng)用到使用線性相控陣探頭進(jìn)行的平面工件檢測，也可被應(yīng)用到使用圓形相控陣探頭進(jìn)行的管材和棒材