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X射線熒光光譜儀的構(gòu)造和測(cè)試步驟
閱讀：3000 發(fā)布時(shí)間：2020-3-5
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。
X射線熒光光譜儀的構(gòu)造：
主要由以下幾部分組成：
?。?）激發(fā)系統(tǒng)：主要部件為X射線管，可以發(fā)出原級(jí)X射線（一次X射線），用于照射樣品激發(fā)熒光X射線；
?。?）分光系統(tǒng)：對(duì)來自樣品待測(cè)元素發(fā)出的特征熒光X射線進(jìn)行分辨（主要為分光晶體）；
?。?）探測(cè)系統(tǒng)：對(duì)樣品待測(cè)元素的特征熒光X射線進(jìn)行強(qiáng)度探測(cè)；
?。?）儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)：處理探測(cè)器信號(hào)，給出分析結(jié)果。
X射線熒光光譜儀的測(cè)試步驟：
（1）選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數(shù)法、半基本參數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法等，制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法，常用粉末壓片法制樣，采用基本參數(shù)法測(cè)試。
（2）將制備好的樣片裝進(jìn)樣品杯，放入樣品交換器中，自動(dòng)進(jìn)樣至樣品室，X射線管發(fā)出原級(jí)X射線照射樣品，激發(fā)出待測(cè)元素的熒光X射線。
（3）樣品輻射出的熒光X射線通過分光晶體，將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線，由探測(cè)器測(cè)量各譜線的強(qiáng)度，根據(jù)選用的分析方法換算成元素濃度，得到樣品中待測(cè)元素含量。