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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> LT-1ρ≥3Ω-少子壽命測(cè)試儀
高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測(cè)試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料組織SEMI標(biāo)準(zhǔn)(F28-75)及國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553-1997設(shè)計(jì)制造,廣泛應(yīng)用于工廠的常規(guī)測(cè)量。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。
少子壽命測(cè)試儀配置:
光脈沖發(fā)生裝置(重復(fù)頻率>25次/s 脈寬≥60μs 光脈沖關(guān)斷時(shí)間<5μs
紅外光源波長:1.06~1.09μm(測(cè)量硅單晶) 脈沖電源:5A~20A)
高頻源(頻率:30MHz 低輸出阻抗 輸出功率>1W)
放大器和檢波器(頻率響應(yīng):3Hz~1MHz)
配用示波器(配用示波器:頻帶寬度不低于10MHz Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)
如測(cè)量鍺單晶壽命需另行配置適當(dāng)波長的光源)
壽命測(cè)試范圍:10~6000μs
主機(jī)外形尺寸:W470×D365×H155
總重量:12Kg
電源:~220V 50Hz 功耗<50W
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