產(chǎn)品簡介
詳細介紹
產(chǎn)品介紹:
消除背面反射光
采用特殊光學系,消除背面反射光。不必進行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。
可測定微小領域的反射率
用對物鏡對焦于被測面的微小區(qū)域(φ60μm),可測定鏡片曲面及鍍膜層脫落。
測定時間短
使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測定,可迅速實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。
XY色度圖、L*a*b*測定可能
以分光測定法為基準,從分光反射率情況可測定物體顏色。
Hard Coat(高強度鍍膜)膜厚測定可能
用干涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。
主要用途
· 各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取頭鏡片等)
· 反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)
與原產(chǎn)品的主要區(qū)別
· 采用全新的USPM-RUⅢ框架及設計,提高了操作性能。
· 受臺Z方向的移動范圍從35mm(原產(chǎn)品)擴大到了85mm。
· 電源規(guī)格可對應AC100V以及AC220V。 (請您在下訂單時注明電源規(guī)格。)
· 優(yōu)化了軟件的功能。(可顯示10次測定的功能等)
· XY受臺移動方向增加了比例尺。
· 更換鹵燈時不需調(diào)整燈的位置。
· PC與Interface采用了USB式連接。
產(chǎn)品規(guī)格
測定波長 | 380nm~780nm |
測定方法 | 與參照試料的比較測定 |
被測物N.A. | 0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時) ※與對物鏡的N.A不同 |
被測物W.D. | 10.1mm(使用10×對物鏡時) 3.1mm(使用20×對物鏡時) |
被測物的曲率半徑 | -1R~-∞、+1R~∞ |
被測物的測定范圍 | 約φ60μm(使用10×對物鏡時) 約φ30μm(使用20×對物鏡時) |
被測物再現(xiàn)性 | ±0.1%以下(2σ)(380nm~410nm測定時) ±0.01%以下(2σ)(410nm~700nm測定時) |
表示精度 | 1nm |
測定時間 | 數(shù)秒~十數(shù)秒(因取樣時間各異) |
光源規(guī)格 | 鹵燈 12V100W |
裝置重量 | 本體:約20kg(電腦、打印機除外) 光源用電源:約3kg、控制器:約8kg |
裝置尺寸 | 本體:300(W)×550(D)×570(H)mm 光源用電源:150(W)×250(D)×140(H)mm 控制器盒:220(W)×250(D)×140(H)mm |
電源規(guī)格 | 光源用電源:100V (2.8A)/220V AC 控制器盒:100V(0.2A)/220V AC |
使用環(huán)境 | 水平且無振動的場所 溫度:23±5℃ 濕度:60%以下、無結(jié)露 |
軟件 | ■測定參數(shù)設定 保存環(huán)境文檔、可讀取 ■分光反射率測定 設定參考值(固定值、分散式、可選擇文檔數(shù)據(jù)) 取樣時間設定 判定是否合格 波長方向刻度 ■物體顏色測定 XY色度圖、L*a*b*色度圖 標準光源設定(A、B、C、D65) 視野設定(2°視野、10°視野) ■膜厚(單層膜)測定 鍍膜材料折射率 |
*作為特別訂貨,可對應測定波長為440nm~840nm。 |
· 如規(guī)格及外觀發(fā)生變更恕不另行通知,敬請諒解。