產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
小型·操作簡便
充分考慮作業(yè)現(xiàn)場內(nèi)的使用環(huán)境,占地空間小,方便操作。
可測量倍率(1×、2.5×)
測定倍率擴大到2.5×,可簡單測量小件物體。與Φ60-Φ15(可選件)的孔徑轉(zhuǎn)換器組合匹配使用的話,可zui大擴大10倍。(平面測定時)
參照鏡片λ/20 高精度
因為本社加工技術(shù),參照鏡為λ/20高精度鏡片。根據(jù)客戶選擇的需要,也可提供λ/30 的產(chǎn)品。
豐富的附屬備件群
我社準(zhǔn)備了豐富的附屬備件。如使用干涉條紋解析裝置(KIF-FSPC/FS2000),可進(jìn)行高精度條紋解析。
主要用途:
· 鏡片研磨面的面精度的測定。
· 塑料成型件的面精度的測定。
· 各種金屬切削面的面精度的測定。
規(guī)格:
測定方法 | 斐佐型干涉方式 |
口徑 | Φ60(使用可選件為Φ6-Φ102)mm |
被檢物大小 | Φ6-Φ102(平面測定時)mm |
倍率 | 1×、2.5×(本體2 段切換) 4×、10×(使用Φ60-Φ15的孔徑轉(zhuǎn)換器時) |
參照面精度 | λ/20(球面以及平面) |
光源 | He-Ne(632.8nm)激光 |
電源 | AC100V 50/60Hz |
本體外形尺寸 | 220(W)×360(D)×740(H)mm |
本體重量 | 約33kg |
標(biāo)準(zhǔn)附屬品 | 9型TV顯示器、5軸調(diào)整受臺 |
各參照鏡可測量范圍(表示KIF-202L標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格樣式時的可測定范圍)
參照鏡 | 檢查可能曲率半徑 | 檢查可能zui大口徑 | ||||
FNO | zui終 | R R/D | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 |
0.6 | 16.8 | 0.65 | 1~16 | 1~295 | 24.6 | 200 |
0.7 | 26.2 | 0.75 | 2~26 | 2~298 | 34.6 | 200 |
1.0 | 45.5 | 1.02 | 2~45 | 3~283 | 44.1 | 200 |
1.5 | 75.2 | 1.51 | 2~75 | 2~251 | 49.7 | 166.2 |
2.0 | 105.0 | 2.0 | 2~105 | 2~220 | 52.5 | 110 |
3.0 | 163.8 | 3.0 | 2~163 | 2~159 | 54.3 | 53 |
6.0 | 347.6 | 6.0 | 16~347 | - | 57.8 | - |
●如必須測定曲率半徑在R2以下的場合,我社可以提供更加適合的規(guī)格,請與我社。
各標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格參照鏡的可測定范圍
KIF-202L (標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格)樣式時的測定可能范圍(mm)
參照鏡 | KIF-202L(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格樣式) | |||||||||
型號 | zui終R | R/D | 測定可能曲率半徑 | 測定可能zui大口徑 | ||||||
干擾條紋掃描機組無 | 干擾條紋掃描機組有 | 干擾條紋掃描機組無 | 干擾條紋掃描機組有 | |||||||
凸 | 凹 | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 | |||
F0.6 | 16.8 | 0.65 | 1~16 | 1~295 | 1~16 | 1~205 | 24.6 | 200 | 24.6 | 200 |
F0.7 | 26.2 | 0.75 | 2~26 | 2~298 | 2~26 | 2~208 | 34.6 | 200 | 34.6 | 200 |
F1.0 | 45.5 | 1.02 | 2~45 | 2~283 | 2~45 | 2~193 | 44.1 | 200 | 44.1 | 189.2 |
F1.5 | 75.2 | 1.51 | 2~75 | 2~251 | 2~75 | 2~161 | 49.7 | 166.2 | 49.7 | 106.6 |
F2.0 | 105.0 | 2.0 | 2~105 | 2~220 | 2~105 | 2~130 | 52.5 | 110 | 52.5 | 65 |
F3.0 | 163.8 | 3.0 | 2~163 | 2~159 | 2~163 | 2~69 | 54.3 | 53 | 54.3 | 23 |
F6.0 | 347.6 | 6.0 | 16~347 | - | 106~347 | - | 57.8 | - | 57.8 | - |
表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
各特別規(guī)格參照鏡的測定可能范圍(受注生產(chǎn)品)
*本社準(zhǔn)備了2 英寸的特別規(guī)格參照鏡,可用于較大曲率半徑的測定。
*凹鏡片測定用(發(fā)散型)樣式有4 種,凸鏡片測定用(集光型)樣式有3 種??晒┠S意選擇。
KIF-202L (標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格)樣式時的測定可能范圍(mm)
特別規(guī)格參照鏡 | KIF-202L(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格樣式) | |||||||||
型號 | zui終R | R/D | 測定可能曲率半徑 | 測定可能zui大口徑 | ||||||
干擾條紋掃描機組無 | 干擾條紋掃描機組有 | 干擾條紋掃描機組無 | 干擾條紋掃描機組有 | |||||||
凸 | 凹 | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 | |||
RS60-C150 | -150.3 | 1.93 | - | 160~464 | - | 160~370 | - | 200 | - | 191.7 |
RS60-C300 | -300.1 | 4.62 | - | 310~626 | - | 310~530 | - | 135.4 | - | 114.7 |
RS60-C390 | -389.3 | 6.03 | - | 400~715 | - | 400~620 | - | 118.5 | - | 102.8 |
RS60-C490 | -482.9 | 7.54 | - | 495~806 | - | 495~711 | - | 106.8 | - | 94.2 |
RS60-V520 | 519.1 | 8.85 | 193~509 | - | 290~509 | - | 57.5 | - | 57.5 | - |
RS60-V670 | 664.1 | 11.56 | 338~654 | - | 433~654 | - | 56.5 | - | 56.5 | - |
RS60-V750 | 750.3 | 13.08 | 426~740 | - | 521~740 | - | 56.5 | - | 56.5 | - |
表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
KIF-202LL(長距離:150mm沖程延長規(guī)格)樣式時的測定可能范圍(mm)
特別規(guī)格參照鏡 | KIF-202LL(長距離:150mm 沖程延長規(guī)格)樣式 | |||||||||
型號 | zui終R | R/D | 測定可能曲率半徑 | 測定可能zui大口徑 | ||||||
干擾條紋掃描機組無 | 干擾條紋掃描機組有 | 干擾條紋掃描機組無 | 干擾條紋掃描機組有 | |||||||
凸 | 凹 | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 | |||
RS60-C150 | -150.3 | 1.93 | - | 160~614 | - | 160~520 | - | 200 | - | 200 |
RS60-C300 | -300.1 | 4.62 | - | 310~776 | - | 310~680 | - | 167.9 | - | 147.1 |
RS60-C390 | -389.3 | 6.03 | - | 400~865 | - | 400~770 | - | 143.4 | - | 127.6 |
RS60-C490 | -482.9 | 7.54 | - | 495~956 | - | 495~861 | - | 126.7 | - | 114.1 |
RS60-V520 | 519.1 | 8.85 | 43~509 | - | 140~509 | - | 57.5 | - | 57.5 | - |
RS60-V670 | 664.1 | 11.56 | 188~654 | - | 283~654 | - | 56.5 | - | 56.5 | - |
RS60-V750 | 750.3 | 13.08 | 276~740 | - | 371~740 | - | 56.5 | - | 56.5 | - |
表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
注明:測定可能zui大曲率半徑以及測定可能zui大口徑,將會根據(jù)干涉儀的受臺夾具等機械尺寸、被檢鏡片的大小以及減振板、線性卡尺等的安裝而改變。但是歸根結(jié)底因為目視,故不能保證。