電子產(chǎn)品在在極速溫度變化下性能試驗(yàn)方法：

目的：

確定產(chǎn)品在溫度急劇變化氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的環(huán)境適應(yīng)性能力。在高溫與低溫瞬間變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，通過(guò)測(cè)試后的檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用;

試驗(yàn)方法：

1.溫度范圍: -45°C～+85℃

2.溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:<3min

3.高低溫極限溫度各保持2小時(shí)

4.循環(huán)次數(shù)為10次

5.試驗(yàn)過(guò)程中不通電，試驗(yàn)結(jié)束后，檢查外觀和通電測(cè)試產(chǎn)品功能

6.循環(huán)次數(shù)每檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求的不同，有的要求3次，5次，10次循環(huán)的都有，高低溫保持時(shí)間也是根據(jù)產(chǎn)品的實(shí)際使用場(chǎng)所以及用戶的要求來(lái)確定.

快速溫變測(cè)試也被稱為溫度循環(huán)試驗(yàn)，溫度變化速率一般要求5度/min、10度/min、15度/min?？焖贉刈?cè)囼?yàn)適用于航空航天產(chǎn)品、儀器儀表、電工電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧跇O速溫度改變條件下發(fā)現(xiàn)早期故障的一種環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)方法。

快速溫變?cè)囼?yàn)實(shí)驗(yàn)室新引進(jìn)的快速溫變/溫度循環(huán)試驗(yàn)箱內(nèi)箱尺寸：高 1200mm、寬 1000mm、深 1000mm。溫度變化速率可高達(dá)15度/min，可以滿足民用設(shè)備的環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)條件。

快速溫度變化試驗(yàn)在實(shí)際應(yīng)用中有兩類：

一類為慢速的溫度變化試驗(yàn)，其溫度變化速率＜3℃/min（一般各標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)常選擇參數(shù)為1℃/min），也既一般應(yīng)用中的溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變?cè)囼?yàn)（此三類為一種試驗(yàn)）；

另一類為快速的溫度變化試驗(yàn)，其溫度變化速率≥3℃/min，也既一般應(yīng)用中的快速溫變?cè)囼?yàn)。

快速溫度變化試驗(yàn)的特點(diǎn)：

產(chǎn)品在試驗(yàn)中工作、溫度變化的速率一定。溫度變化速率一般為3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min，15℃/min，20℃/min，25℃/min。