電子電工高溫低溫試驗(yàn)方法可程式高低溫試驗(yàn)箱：

高溫測(cè)試：是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間；

高溫測(cè)試分為：高溫工作、高溫啟動(dòng)、高溫貯存。

低溫測(cè)試：是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

低溫測(cè)試分為：低溫工作、低溫啟動(dòng)、低溫貯存。

高低溫測(cè)試的試驗(yàn)程序：

1、將樣品進(jìn)行試驗(yàn)前的檢測(cè)，確保性能功能完好；

2、將受試樣品放進(jìn)溫度箱，擺放在中間位置，電源線信號(hào)線從溫箱的出口出來(lái)，和輔助設(shè)備搭接完成；

3、開(kāi)啟溫度箱控制程序，設(shè)定溫度點(diǎn)，保持時(shí)間，溫度變化速率等條件，確認(rèn)各事項(xiàng)準(zhǔn)備完畢后，開(kāi)啟試驗(yàn)程序。

4、試驗(yàn)中的檢查，觀察受試樣品是否處于正常工作狀態(tài)。

5、試驗(yàn)后最后檢查，若是貯存試驗(yàn)，試驗(yàn)后觀察產(chǎn)品的性能和功能是否發(fā)生改變。

高低溫測(cè)試檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007

包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第 2 部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理GB/T 4857.2－2005，ISO 2233:2000

汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件 QC/T 413-2002

道路車輛 電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第 4 部分：氣候負(fù)荷 GB/T 28046.4-2011，ISO 16750-4:2006

裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn) GJB150.4A-2009

通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB367A－2001

計(jì)算機(jī)通用規(guī)范 GJB 322A-1998

軌道交通 機(jī)車車輛電子裝置 IEC60571:2006

軌道交通 機(jī)車車輛電子裝置 EN 50155:2017

測(cè)試周期：

低溫貯存24小時(shí)

高低溫工作4小時(shí)或2小時(shí)

高溫貯存48小時(shí)

高低溫啟動(dòng)2小時(shí)或1小時(shí)