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數(shù)字顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀/顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀型號(hào)：DP/X-4

測(cè)溫方式	溫度傳感器	測(cè)量誤差	程量±1%
作方式	溫度值LED	式樣用量	<1mg/次
	數(shù)顯	顯微鏡	MTS300
	手動(dòng)控制	放大倍數(shù)	20x～40x
測(cè)量范圍	室溫～320℃	視場(chǎng)直徑	10mm～5mm
度	0.1℃	作距離	105mm
儀器配置	控制箱、加熱測(cè)溫臺(tái)、溫度傳感器、載玻片
儀器配置	MTS300兩檔體視顯微鏡、隔熱玻璃、散熱器、鑷子

其它

商品名稱：介電常數(shù)測(cè)試儀/介電常數(shù)檢測(cè)儀/介電常數(shù)測(cè)定儀
商品型號(hào)：DPSTD-A

介電常數(shù)測(cè)試儀/介電常數(shù)檢測(cè)儀/介電常數(shù)測(cè)定儀 型號(hào)：DPSTD-A

DPSTD-A介電常數(shù)測(cè)試儀
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提材料的性能提供依據(jù)；該儀器廣泛應(yīng)用于大專院校、科研院所對(duì)無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
介電常數(shù)測(cè)試儀主要標(biāo)
1．頻率范圍及刻度誤差
范圍：50KHz~50MHz共分七個(gè)波段，允許誤差：+2%
   1.1：50~150KHz；         1.2：150~450KHz
   1.3：450~1500KHz；       1.4：1.5~4.5MHz
   1.5：4.5~12MHz；         1.6：12~25MHz
   1.7：25~50MHz；
2．Q值測(cè)量范圍及誤差
范圍：5~500
誤差：1）當(dāng)頻率從5~25KHz
             量程5~50 +5%，量程15~150 +5%，量程50~500 +7%
2）當(dāng)頻率從25~50MHz，所有量程均為+10%
3）△Q范圍：-25 ~ 0 ~ +25。
3．電感測(cè)量范圍及誤差：范圍：0.1μH~100mH，誤差：+5%+0.01μH
4．試樣尺寸
圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時(shí)）；
Φ25~35mm（ε=12~30時(shí)）Φ15~20mm（ε>30時(shí)）。