北京慧龍環(huán)科環(huán)境儀器有限公司
主營產(chǎn)品: 奧立龍水質(zhì)分析儀,WTW水質(zhì)分析儀 |
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XD2/3衍射儀
參考價(jià) | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 型號(hào) XD2/3
- 品牌
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 所在地 北京市
更新時(shí)間:2016-09-15 12:41:31瀏覽次數(shù):1437
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XD2/3系列衍射儀
關(guān)鍵詞:XD2/3系列衍射儀、XD2/3、系列、慧龍環(huán)科
X射線是對(duì)晶體物質(zhì)和材料的組成和原子級(jí)結(jié)構(gòu)進(jìn)行研究和鑒定的分析儀器。XD2/3型X射線粉末具有精度高、準(zhǔn)確度高、機(jī)械穩(wěn)定性好、經(jīng)久耐用、易升級(jí)、操作簡便和智能化的特點(diǎn),能靈活地適應(yīng)各種行業(yè)的測試分析與研究。是目前國內(nèi)生產(chǎn)制造*θ-θ模式X射線粉末成熟的廠家。XD2/3系列被授予教育部科技成果鑒定推薦產(chǎn)品,國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局認(rèn)證產(chǎn)品,2007年BCEIA金獎(jiǎng)等榮譽(yù)。
X射線多晶衍射技術(shù)主要應(yīng)用于多晶物質(zhì)。世界上的任何物體均是由某些材料構(gòu)成的,而固體材料中的多數(shù)是屬多晶體,非晶體和液體的某些問題,也可用X射線多晶體衍射設(shè)備做研究,所以,X射線多晶體衍射應(yīng)用的領(lǐng)域是很廣泛的,涉及到各行各業(yè)。
環(huán)境保護(hù) | 環(huán)境中石棉的定性和定量分析,粉塵和塵埃的定性分析,粉煤灰、爐渣等經(jīng)各種處理后的結(jié)構(gòu)分析。 |
石油化工 | 中油化工中未知物相分析,催化研究中催化劑研制及應(yīng)用過程中各階段物相組成變化,活性組分變化狀況分析等; X、Y、ZSM、SAPO等各種分子篩的硅鋁比,結(jié)晶度,晶胞參數(shù),晶粒大小測定,各類樣品的結(jié)構(gòu)參數(shù)測定。 |
鋼鐵冶金 | 鋼鐵 鋼鐵的定性分析、殘留奧氏體分析、殘余應(yīng)力分析、氧化膜和氮化層的分析、各種電鍍和織構(gòu)的評(píng)價(jià)。 鑄鐵 鑄鐵中的析出物和鑄造用添加劑的定性分析等。 表面處理鋼 表面處理部位的特性評(píng)價(jià)、質(zhì)量管理和殘留應(yīng)力分析。 |
電池材料 | 電池樣品的定性分析,半高寬強(qiáng)度比計(jì)算。例如球鎳顆粒的結(jié)構(gòu)特性分析。 |
有色金屬 | 銅鋅鋁及其合金和氧化物、氮化物的定性分析,表面處理部位的特性評(píng)價(jià)、取向分析、應(yīng)力分析。 |
醫(yī)藥化妝品 | 醫(yī)藥品 藥品原材料的定性分析、雜質(zhì)的鑒別、晶體的多形態(tài)分析和結(jié)晶度的測定、通過晶體粒徑的測定進(jìn)行藥品生產(chǎn)工藝中的質(zhì)量管理等,如蒙脫石散的測定。 化妝品 化妝品中有害成分的分析,如石棉的測定。 |
建筑材料 | 陶器?瓷器?水泥?玻璃 原材料的定性分析,終產(chǎn)品的評(píng)價(jià)。如熟料和水泥的定性分析、定量分析(純石灰等)。原材料的定性分析、在玻璃表面上形成的薄膜層的定性分析、取向度分析等。 耐火磚 如,硅磚物相分析,其中游離石英的定性定量測定。 |
機(jī)械制造 | 機(jī)械零件表面定性分析、奧氏體的分析、殘留應(yīng)力的分析。尾氣處理的各種催化劑的定性分析、工具鋼的定性分析、加工整形零件的表面狀態(tài)分析、奧氏體層的分析、表面電鍍部位的定性分析、殘留應(yīng)力分析等。 |
煤炭天然氣 | 工業(yè)規(guī)模的定性分析、碳材料的評(píng)價(jià)、石油精練工藝中催化劑材料的評(píng)價(jià)。 |
XD2/3系列特點(diǎn):
高精度多功能立式測角儀
裝配電機(jī)采用20微細(xì)分驅(qū)動(dòng)技術(shù),使小步進(jìn)角度達(dá)到0.0005°、2θ測角重復(fù)性優(yōu)于0.0006°。根據(jù)分析要求,可以選擇分析常規(guī)粉末樣品、塊狀樣品的θ-2θ測角儀,也可以選擇分析從常規(guī)粉末樣品、塊狀樣品到超大不規(guī)則樣品、粘稠液體樣品的θ-θ測角儀。
裝配電機(jī)采用20微細(xì)分驅(qū)動(dòng)技術(shù),使小步進(jìn)角度達(dá)到0.0005°、2θ測角重復(fù)性優(yōu)于0.0006°。根據(jù)分析要求,可以選擇分析常規(guī)粉末樣品、塊狀樣品的θ-2θ測角儀,也可以選擇分析從常規(guī)粉末樣品、塊狀樣品到超大不規(guī)則樣品、粘稠液體樣品的θ-θ測角儀。
優(yōu)秀的低角度掃描功能
XD2/3型具有*的低角度掃描功能,常規(guī)的低角度掃描角度可從0.5°開始,適用于對(duì)薄膜或分子篩樣品的直接測定。
XD2/3型具有*的低角度掃描功能,常規(guī)的低角度掃描角度可從0.5°開始,適用于對(duì)薄膜或分子篩樣品的直接測定。
軟件齊全
配套的控制獲取軟件、分析軟件齊全,具有強(qiáng)大的可操作、分析功能。
配套的控制獲取軟件、分析軟件齊全,具有強(qiáng)大的可操作、分析功能。
性能穩(wěn)定
用戶長期使用(8個(gè)月),α-石英101衍射角標(biāo)準(zhǔn)偏差優(yōu)于0.0015°。
用戶長期使用(8個(gè)月),α-石英101衍射角標(biāo)準(zhǔn)偏差優(yōu)于0.0015°。
重視安全結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
機(jī)柜設(shè)計(jì)與測角儀光閘采用了連鎖結(jié)構(gòu),未到位置X射線無法開啟,嚴(yán)防X射線泄露。
機(jī)柜設(shè)計(jì)與測角儀光閘采用了連鎖結(jié)構(gòu),未到位置X射線無法開啟,嚴(yán)防X射線泄露。
XD2/3系列技術(shù)參數(shù):
主機(jī)構(gòu)成 | 項(xiàng)目 | XD-2 | XD-3 |
X光管 | 種類 | Cu靶,NF型 | |
焦斑 | 1.0x10mm2 | ||
大輸出 | 2kW | ||
X射線發(fā)生器 | 大輸出 | 3 kW | |
X光管電壓 | 15~60kV | ||
管電壓步寬 | 1kV | ||
X光管電流 | 6~50mA | ||
管電流步寬 | 1mA | ||
管電壓、管電流穩(wěn)定度 | ≤0.01%(電源電壓浮動(dòng)10%) | ||
報(bào)警裝置 | kV過低、kV過高、mA過載、水流量、溫度 | ||
射線功率保護(hù) | 0.35、0.7、1.0、1.5、2.0、2.7kW六檔 | ||
測角儀 | 測角儀掃描半徑 | 180mm | |
測樣形式 | 樣品水平運(yùn)動(dòng) | 樣品水平靜止 | |
掃描方式 | θs-2θd聯(lián)動(dòng)或θs、2θd單動(dòng) | θs -θd聯(lián)動(dòng)或θs、θd單動(dòng) | |
掃描角度范圍 | -180°~180°(θs) -30°~160°(2θd) | -30°~80° (θs) -30°~160°(θd) | |
工作方式 | 連續(xù)掃描、定時(shí)步進(jìn)掃描、定數(shù)步進(jìn)掃描 | ||
連續(xù)掃描速度 | 0.125°~120°/min | ||
角度重復(fù)性 | 0.0006° | ||
測量精度 | 0.001° | ||
小步進(jìn)角度 | 0.00025° | ||
發(fā)散狹縫(DS) | 0.15°、0.5°、1°、2° | ||
防散射狹縫(SS) | 0.5°、1°、2° | ||
接收狹縫(RS) | 0.1,0.15,0.30,0.45,0.6,1,2mm | ||
調(diào)零狹縫 | 0.02mm | ||
檢測·計(jì)數(shù)器 | 檢測器類型 | 閃爍晶體計(jì)數(shù)器 | |
晶體類型 | NaI | ||
檢測器噪音 | ≤1cps | ||
脈沖幅度分析器(PHA) | 輸出高壓0~1000V,穩(wěn)定性≤0.01%(8h) | ||
機(jī)柜 | 機(jī)柜尺寸(mm) | 1200(長)×800(寬)×1850(高) | |
整機(jī)重量(kg) | 500 | ||
觀察窗 | 600(高)×400(寬)×10(厚)鉛玻璃 | ||
X射線泄漏量 | ≤0.1μSv/h(未扣除天然本低) | ||
安全措施 | 門連鎖保護(hù)(門到位置,光閘才打開,產(chǎn)生X射線) | ||
濾波器·單色器 | Ni濾片(對(duì)應(yīng)Cu靶) | 消除連續(xù)X射線、熒光X射線及約98%的Kβ特征X射線 | |
石墨晶體單色器 | 反射效率η≥28%;消除全部連續(xù)X射線、熒光X射線及Kβ特征X射線; | ||
整機(jī)綜合穩(wěn)定度 | | ≤0.3% |
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