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| 一、儀器的主要用途和特點(diǎn) | | | XPR-300型透射偏光熔點(diǎn)測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化 學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等部門和相關(guān)高等院校的高分子...等專業(yè)zui常用的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
本系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域，適用于研究物體的結(jié)晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測量、結(jié)晶動力學(xué)的過程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結(jié)構(gòu)分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等總多研究方向。
偏光顯微熔點(diǎn)測定儀XPR-300系統(tǒng)匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學(xué)、自動控制、模量學(xué)等總多研究領(lǐng)域的當(dāng)前技術(shù)，多年研究開發(fā)的結(jié)果，在國內(nèi)享有.本儀器的具有可擴(kuò)展性，可以接計算機(jī)和數(shù)碼相機(jī)。對圖片進(jìn)行保存、編輯和打印。 | | 二、儀器的主要技術(shù)指標(biāo) | | | 1.顯微鏡技術(shù)參數(shù):
| 名稱 | 規(guī)格 | | 總放大倍數(shù)： | 40X---630X | | 無應(yīng)力消色差物鏡 | 4X/0.1 | | 10X/0.25 | | 25X/0.40 | | 40X/0.65 彈簧 | | 63X/0.85 彈簧 | | 目鏡 | 10X 十字目鏡 | | 10X 分劃目鏡 | | 試片 | 石膏 1λ 試片 | | 云母 1/4λ 試片 | | 石英楔子試片 | | 測微尺 | 0.01mm | | 濾色片 | 藍(lán)色 | | 帶座目鏡網(wǎng)絡(luò)尺 | | | 移動尺 | 移動范圍 30mm×40mm | | 鏡筒 | 三目觀察 |
2.熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù):
| 熱臺組成 | 性能 | | 顯微精密控溫儀 | 在 20倍物鏡下工作溫度可達(dá)到zui高300 ℃ 、溫度運(yùn)行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設(shè)定， 30段溫度編程，循環(huán)操作，能準(zhǔn)確反映設(shè)定溫度、爐芯溫度、樣品的實(shí)際溫度。每段設(shè)定起始溫度，及在該段內(nèi)可維持時間，升溫速率可調(diào)、精度 ± 0.3 ℃、記憶點(diǎn)讀數(shù) | | 顯微加熱平臺 | 可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1
· 起始溫度室溫
·工作區(qū)加熱使用面積至少 1X1厘米
·工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1
·透光區(qū)域 2mm以上，可調(diào)
·顯示溫度與實(shí)際溫度誤差不超過 ± 0.2
·熱臺可以隨載物臺移動
在加熱狀態(tài)下zui高可使用 20倍物鏡 | 注意： 熔點(diǎn)測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離
太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡） | | | | | 三、系統(tǒng)的擴(kuò)展性 | | | XPR-300C型偏光熔點(diǎn)儀系統(tǒng)是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、*的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、*的計算機(jī)成像技術(shù)和精密的溫控技術(shù)*地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品。可以在計算機(jī)上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對偏光圖譜進(jìn)行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。 | | |
1、偏光顯微鏡XP-300
2、數(shù)碼適配鏡
3、彩色數(shù)碼相機(jī)（canon）
4、熱臺 | | | |
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