產(chǎn)品展示

AB135-S/FACT梅特勒電子分析天平

公司名稱：
更新時間：
所在地：
生產(chǎn)地址：
瀏覽次數(shù)：

上海耀壯檢測儀器設(shè)備有限公司
2024-10-17 18:51:09
上海市
瑞士
1912

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

【簡單介紹】

梅特勒AB135-S/FACT 電子分析天平：
電子分析天平的Z大稱重范圍為120g；
可讀性為0.1mg；
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用程序：計件稱量, 百分比稱量, 動態(tài)稱量；
顯示不同稱量單位: g, mg, lb, oz, ozt, GN, dwt, mo, m, tl。

【詳細(xì)說明】

梅特勒AB135-S/FACT 電子分析天平：
梅特勒AB135-S/FACT 電子分析天平的zui大稱重范圍為120g，可讀性為0.1mg，梅特勒AB135-S/FACT DualRange 電子分析天平采用全自動校準(zhǔn)技術(shù)-保持！，易用和可靠，多年來提供優(yōu)質(zhì)稱量，這就是梅特勒AB135-S/FACT DualRange 電子分析天平。梅特勒AB135-S/FACT DualRange 電子分析天平的堅固的全金屬機架使它們成為您日常使用的可靠助手。

梅特勒AB135-S/FACT 電子分析天平的功能和特點：
: FACT全自動內(nèi)部校準(zhǔn)。
背亮式液晶顯示屏: 方便用戶在不同稱量環(huán)境下讀取稱量結(jié)果。
堅固的全金屬機架：延長天平的使用壽命。
MonoBloc 單模塊傳感器技術(shù): 具備持久的抗沖擊和抗過載性能。
堅固的操作鍵:不易磨損，易于清潔。

所有型號均提供:
塑料保護罩
RS232 接口
下掛稱量的掛鉤

我們可提供所有型號（經(jīng)驗證版本）
外置砝碼校準(zhǔn)
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用程序：計件稱量, 百分比稱量, 動態(tài)稱量
顯示不同稱量單位: g, mg, lb, oz, ozt, GN, dwt, mo, m, tl

梅特勒AB-S/FACT 電子分析天平的區(qū)別：

	zui大稱量范圍	可讀性
AB135-S/FACT DualRange 分析天平	31 g / 120 g	0.01 mg / 0.1 mg
AB265-S/FACT DualRange 分析天平	61 g / 220 g	0.01 mg / 0.1 mg
AB54-S/FACT 分析天平	51 g	0.1 mg
AB104-S/FACT 分析天平	110 g	0.1 mg
AB204-S/FACT 分析天平	220 g	0.1 mg
AB304-S/FACT 分析天平	320 g	0.1 mg

梅特勒AB135-S/FACT 電子分析天平的技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格 - AB135-S/FACT DualRange 分析天平
Search Capacity	31 g / 120 g
Search Readability	0.01 mg / 0.1 mg
線性	0.2 mg
重復(fù)性	0.03 mg / 0.1 mg
靈敏度（溫度取樣泵漂移）	2.5 ppm/°C
秤盤尺寸	ø 80 mm
穩(wěn)定時間（典型）	15 s / 4 s
外部砝碼校準(zhǔn)	100 g
內(nèi)部砝碼校準(zhǔn)	FACT
尺寸	245x321x344 mm （DxH）
稱量盤上方的有效高度	237 mm
接口	RS232


留言框
感興趣的產(chǎn)品：	*
留言內(nèi)容：
您的姓名：	*
您的單位：
聯(lián)系電話：	*
微信：
常用郵箱：
詳細(xì)地址：
省份：	*
驗證碼：	* = 請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

稱量--測距測繪儀器

全部產(chǎn)品列表

聯(lián)系方式

上海耀壯檢測儀器設(shè)備有限

地址：上海市廣富林路697號昂立大廈1108室
郵編：201620
聯(lián)系人：路先生
電話：021-51086370
傳真：
手機：13818810982
留言：發(fā)送留言
個性化：www.sh-yaozhuang.com
網(wǎng)址：www.yaozhuang17.com.cn
商鋪：http://m.facexiu.com/st203413/

上海耀壯檢測儀器設(shè)備有限公司

美國超聲波測厚儀,漆膜涂層測厚儀,黑白光兩用照度計

13818810982

AB135-S/FACT梅特勒 電子分析天平

相關(guān)產(chǎn)品

AB135-S/FACT梅特勒電子分析天平