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對(duì)粒度分析來(lái)說(shuō)，沒(méi)有一種測(cè)試技術(shù)能夠滿足所有材料的應(yīng)用需求，選擇正確的測(cè)試方法是獲得可靠數(shù)據(jù)的關(guān)鍵，美國(guó)麥克儀器公司提供多種測(cè)定顆粒數(shù)量以及粒度分布的儀器，對(duì)應(yīng)不同的測(cè)試方法，滿足不同的應(yīng)用。

納米粒度與Zeta電位解決方案-Nanoplus納米粒度與Zeta電位儀

NanoPlus是*的利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測(cè)量粒度、Zeta電位和分子量的儀器。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊、易于使用、分析范圍廣、帶有交互式軟件和多個(gè)樣品池，滿足不同用戶的應(yīng)用。

·         三種型號(hào)可選：納米粒度儀、Zeta電位儀，納米粒度與Zeta電位儀

·         測(cè)量懸浮液樣品粒度范圍：0.1nm~12.3μm，濃度范圍0.00001%~40%

·         測(cè)量懸浮液樣品Zeta電位范圍：無(wú)范圍限制，濃度范圍：0.001%~40%

·         可配備自動(dòng)滴定儀以及多種樣品池

費(fèi)氏粒徑解決方案-SAS全自動(dòng)費(fèi)氏粒徑測(cè)試儀

麥克儀器SAS全自動(dòng)費(fèi)氏粒徑測(cè)試儀，是由費(fèi)氏95粒徑儀（FSSS）發(fā)展和升級(jí)而來(lái)，空氣滲透技術(shù)是*的粉體樣品比表面積（SSA）測(cè)試技術(shù)。使用該技術(shù)測(cè)定的SSA數(shù)據(jù)已經(jīng)在多個(gè)行業(yè)廣泛使用，例如：藥物、金屬涂料、顏料和地質(zhì)等行業(yè)

·         粒徑范圍：0.2-75μm

·         設(shè)計(jì)生產(chǎn)費(fèi)氏粒度數(shù)據(jù)，保證數(shù)據(jù)一致性

·         安裝方便，實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示

電阻法顆粒技術(shù)解決方案- ElzoneⅡ顆粒計(jì)數(shù)與粒度分析儀

ElzoneⅡ顆粒計(jì)數(shù)與粒度分析儀采用電阻法這種有效的顆粒粒度表征技術(shù)，適用于同時(shí)分析具有不同光學(xué)性質(zhì)、密度、顏色和形狀的顆粒樣品可迅速、地檢測(cè)精細(xì)顆粒材料的尺寸、數(shù)目、濃度以及質(zhì)量。ElzoneⅡ被廣泛應(yīng)用于工業(yè)、生物、地質(zhì)等粒度大于0.4μm的顆粒，具有*的準(zhǔn)確度和分辨率，操作非常簡(jiǎn)便。

·         測(cè)量范圍：0.4到266μm，有機(jī)或者無(wú)機(jī)材料

·         可使用不同的導(dǎo)電液，不需要輸入液體性質(zhì)參數(shù)

·         無(wú)需事先獲得材料性質(zhì)參數(shù)（密度、折射率等）

·         全自動(dòng)操作：?jiǎn)?dòng)、運(yùn)行、關(guān)閉、檢測(cè)并清除障礙物、沖洗和校準(zhǔn)

·         CCD照相機(jī)可實(shí)時(shí)視頻顯示光圈

X光沉降粒度解決方案-SediGraph IIX光沉降粒度分析儀

結(jié)合成熟的SediGraph分析技術(shù)， SediGraph III通過(guò)對(duì)X-射線的吸收測(cè)量可以直接檢測(cè)分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度，無(wú)需模型，儀器有很好的重復(fù)性、性和重現(xiàn)性。

·         粒度范圍：0.1到300μm

·         高精度X射線管，7年保修

·         可選的MasterTech 052自動(dòng)進(jìn)樣器進(jìn)行18個(gè)樣品的自動(dòng)分析

動(dòng)態(tài)圖像法粒度分析解決方案-Particle Insight全自動(dòng)粒形分析儀

Particle Insight是一款現(xiàn)代化的動(dòng)態(tài)圖像分析儀，對(duì)于那些不僅由于顆粒大小，并且也必須由顆粒形狀來(lái)確定原材料性能的應(yīng)用，Particle Insight是理想的工具。

·         三種型號(hào)-1到150μm, 3到300μm, 10到800μm

·         具有*的光學(xué)、高幀頻、高分辨率的攝像頭，使數(shù)萬(wàn)的顆粒分析能在幾秒內(nèi)完成。所有形狀參數(shù)的數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示

·         30種尺寸/形狀參數(shù)可選，更的客戶控制

·         所有分析過(guò)的粒子都有縮略圖，用來(lái)篩選與察看形狀的顆粒。從單個(gè)粒子圖像捕獲參數(shù)，可用來(lái)監(jiān)測(cè)罕見(jiàn)顆粒

·         循環(huán)樣品模塊和類(lèi)似激光衍射系統(tǒng)的光學(xué)系統(tǒng)能夠在徆短的時(shí)間內(nèi)統(tǒng)計(jì)有效測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)適用于水相和有機(jī)液體

·         適用于水或有機(jī)溶液

激光粒度解決方案- Saturn DigiSizer II全自動(dòng)高分辨率激光粒度分析儀

采用航天級(jí)的電荷耦合器CCD技術(shù)和超過(guò)三百萬(wàn)個(gè)檢測(cè)器保證儀器獲得*的分辨率和的數(shù)字化散射圖樣以獲得*重現(xiàn)性的結(jié)果，即使對(duì)于復(fù)雜材料也可以獲得高分辨率的結(jié)果。

·         CCD檢測(cè)器提供40納米到2.5毫米范圍內(nèi)高分辨率檢測(cè)

·         測(cè)試速度快，高重現(xiàn)性試驗(yàn)數(shù)據(jù)

·         自動(dòng)進(jìn)樣器可完成自動(dòng)采樣、稀釋和分散樣品