產(chǎn)品簡介
LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
蘇州賽秘爾電子科技有限公司 |
—— 銷售熱線 ——
18006219796 |
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1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查 |
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阻抗分析儀IM3570 |
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阻抗分析儀IM3570主機不標配治具。請根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。 |
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阻抗分析儀IM3570基本參數(shù) |
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