顆粒物分析儀SMG200M可測量顆粒物質量濃度最高達250mg/m3，粒徑范圍0.04μm~10μm。儀器堅固耐用，適合移動使用，可承受樣氣溫度高達500攝氏度（探頭位置），并在露點溫度達到80攝氏度做到*準測量，測量數(shù)據(jù)可在觸摸屏上顯示圖形和數(shù)值，可本地存儲或通過U盤傳輸，方便進一步數(shù)據(jù)分析。儀器操作簡便，極低維護，有內部記錄功能，是一款非常好用的顆粒物分析儀。
SAXON顆粒分析儀的主要技術參數(shù)：
測量原理：激光散射法
顆粒尺寸范圍：40nm~>10μm
測量量程：0~250mg/m3
分辨率：10 μg/m3 ± 1 Digit
重復性：≤±3%
精度：全量程的±5%
廢氣溫度：＜500℃
露點：≤80℃
流量：2.88 升/分鐘（±5%，電子控制）
取樣探頭：隨儀器配置，帶2米長加熱管線，400mm柔性探頭
測量持續(xù)時間：1分鐘～30分鐘，可設置
響應時間：T90＜15秒（使用3米管線時）
加熱時間：＜10分鐘
調零：15秒
數(shù)據(jù)通訊：RS232、USB及無線藍牙
顯示器：彩色觸摸屏
語言：英文/德文
環(huán)境溫度：5℃～40℃
相對濕度：最大95%，非冷凝
電源：230VAC/50Hz，功耗最大250VA（帶探頭）
外殼材質：防護等級IP40，鋁合金，帶防震橡膠護邊
尺寸：約寬210mm× 高275mm×深375mm
重量：約7.5Kg
隨機資料：英文操作手冊
13
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務