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當(dāng)前位置:南京互川電子有限公司>>無(wú)損檢測(cè)器材>>磁粉試塊試片>> 美國(guó)磁通KSC-430QQI試片/標(biāo)準(zhǔn)QQI試片
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)美國(guó)磁通KSC-430
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地南京市
更新時(shí)間:2024-04-15 18:01:59瀏覽次數(shù):2044次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)磁粉探傷試片A型,A1型,D型,C型,M1型,A型試片 ,D型試片,C
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片(磁粉探傷試片)
I試片
定量品質(zhì)試片
(I)是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片,I試片用于
1.將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率
2.確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度
3.平衡多向磁場(chǎng)
a)標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷呈基圓和十字交叉條形,適用于縱向和周向磁場(chǎng)
件號(hào):519630 型號(hào):KSC-230
件號(hào):521048 型號(hào):KSC-430
說(shuō)明:標(biāo)準(zhǔn)I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸標(biāo)準(zhǔn)I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.004英寸
b)小型I試片
與KSC-230相似,于工件上的小區(qū)域,每片四個(gè)圓,可切割開(kāi),單獨(dú)使用
件號(hào):519631
型號(hào):KSC-4-230
說(shuō)明:小型I試片,每片試片有4個(gè)基圓,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸
c)不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業(yè),缺陷呈三個(gè)不同深度的同心圓環(huán)
件號(hào):519632
型號(hào):KSCT-234
說(shuō)明:不同深度I試片,缺陷深度分別為試片厚度的20%,30%,40%,試片厚度為0.002英寸,試片背面帶膠,可直接貼在工件上。
件號(hào):521049
型號(hào):KSC4-234
不同深度I試片,缺陷深度分別為試片厚度的20%,30%,40%試片厚度為0.004英寸
名稱 | 型號(hào) | 備注 |
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB11345-1989 | CSK-IB | |
RB-1,RB-2,RB-3 | | |
中華人民共和國(guó)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)ZBY231-1984,ZBY232-1984 | 1# | |
DB-H1,DB-H2 | | |
DB-P | 全套12塊 | |
DB-D1ab | 全套2塊 | |
DB-R,DB-D2(平底) | | |
荷蘭試塊 | V-1(IIW1) | |
牛角試塊 | V-2(IIW2) | |
半圓試塊 | SH-1 | |
模擬試塊 | H-30,H-50,H-80 | 每種全套5塊 |
靈敏度試塊 | CS-1 | 全套15塊 |
CS-2 | 全套66塊 | |
溝槽透度計(jì)(射線照像探傷用) | 1-2# | 全套2塊 |
鐵道部標(biāo)準(zhǔn)試塊 | WGT-1,WGT-2,WGT-3 | |
GTS-60 | 短432mm,加長(zhǎng)1300mm | |
帶把階梯 | | |
三角試塊a.b | 全套2塊 | |
TDS | | |
TZS-R | 全套6塊 | |
LG-R | 全套2塊 | |
水電部標(biāo)準(zhǔn)試塊 | SD-I | |
SD-IIab | 全套2塊 | |
中華人民共和國(guó)電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T5048-1995 | CSK-IB,RB-3,SD-IV | |
SD-III | 來(lái)料加工 | |
補(bǔ)償測(cè)量ab | 全套2塊,來(lái)料加工 | |
小徑管焊接DL-1 | 全套4塊 | |
測(cè)量補(bǔ)償量 | 來(lái)料加工 | |
美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)試塊 | NAVSHIPS | |
ASME | 全套6塊 | |
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)試塊 | B.S.A3 | |
日本標(biāo)準(zhǔn)試塊 | JIS-STB-A2,JIS-STB-A3 | |
JIS-STB-G | 全套10件 | |
對(duì)比試塊 | DZ-1 | |
直流環(huán)形試塊(磁粉探傷) | | |
階梯試塊(射線照像探傷) | | |
靈敏度試塊 | A1,A2 | |
JB1150-73鋼板試塊 | | 全套3塊 |
盲區(qū)試塊 | | |
水平線性試塊 | 1-3# | 全套3塊 |
參考試塊 | CS-R | 全套14塊 |
鋼板試塊 | | 全套5塊 |
中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB4730-1994 | 板厚≤20mm雙晶直探頭試塊 | 全套2塊 |
板厚>20mm單晶直探頭試塊 | 全套6塊 | |
縱波直探頭試塊 | | 全套4塊 |
縱波雙晶直探頭試塊 | | 全套4塊 |
曲面對(duì)比試塊 | | 全套14塊 |
復(fù)合鋼板對(duì)比試塊 | | 來(lái)料加工 |
奧氏體鋼鍛件試塊 | | 全套27塊,來(lái)料加工 |
CSK-IA(綜合試塊,類似荷蘭試塊) | | |
CSK-IIA(長(zhǎng)橫孔試塊) | | |
CSK-IIIA(短橫孔試塊) | | |
CSK-IVA | | 全套4塊 |
T1,T2,T3型試塊 | | 來(lái)料加工 |
鋁試塊 | | 來(lái)料加工 |
測(cè)厚試塊 | | 全套2塊 |
探頭組合性能試塊 | φ5.6孔 | |
工業(yè)鍋爐T型接頭對(duì)接焊縫試塊 | RB-T,RB-Z | 提供尺寸 |
鑄鋼試塊 | | 來(lái)圖來(lái)料加工 |
鋁合金試塊 | | 來(lái)圖來(lái)料加工 |
中國(guó)石油天然氣總公司標(biāo)準(zhǔn)SY4065-1993 | SGB-1~6 | 全套6塊 |
JG/T3034.2-1996鋼網(wǎng)架試塊 | CSK-1C | 全套3塊 |
RBJ-1 | 提供直徑和壁厚 | |
CSK-I | | |
CSK-II | | |
CSK-III | | |
中華人民共和國(guó)電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T694-1999 | LS-1 | |
LS-2 | | |
微盲區(qū)試塊 | STM-1,STM-2 | 產(chǎn)品 |
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