掃描電鏡 Phenom ProX 原裝電鏡能譜一體機同時具備樣品表面微觀形貌觀測和表面元素成分點、線、面分析。
掃描電鏡是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器 。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學信息等優(yōu)點。目前,掃描電子顯微鏡已被廣泛應用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究,僅在地球科學方面就包括了結(jié)晶學、礦物學、礦床學、沉積學、地球化學、寶石學、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。
掃描電子顯微鏡類型多樣,不同類型的掃描電子顯微鏡存在性能上的差異。根據(jù)電子槍種類可分為三種:場發(fā)射電子槍、鎢絲槍和六硼化鑭[5]。其中,場發(fā)射掃描電子顯微鏡根據(jù)光源性能可分為冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡和熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡。冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡對真空條件要求高,束流不穩(wěn)定,發(fā)射體使用壽命短,需要定時對針尖進行清洗,僅局限于單一的圖像觀察,應用范圍有限;而熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡不僅連續(xù)工作時間長,還能與多種附件搭配實現(xiàn)綜合分析。在地質(zhì)領(lǐng)域中,我們不僅需要對樣品進行初步形貌觀察,還需要結(jié)合分析儀對樣品的其它性質(zhì)進行分析,所以熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡的應用更為廣泛。