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　　主要原因有:

　　1：各廠家設(shè)計(jì)的光學(xué)，電學(xué)(主要指探測(cè)器)參數(shù)不同，探測(cè)器組中各個(gè)探測(cè)點(diǎn)空間位置和數(shù)量不同，其探測(cè)到的顆粒信息不同，所以不同位置探測(cè)的信息相差很大，可達(dá)若干個(gè)數(shù)量級(jí)。特別是對(duì)于非球形顆粒，其信息在三維空間上的變化差異很大。

　　2：顆粒分析的算法不同，這也是一個(gè)主要原因。打個(gè)簡(jiǎn)單比喻，1+1=2，但2=?+?，就有無(wú)窮多種解法，在實(shí)際的測(cè)試中，各個(gè)粒徑的信號(hào)是復(fù)合的(矢量合)。要根據(jù)有限點(diǎn)陣的探測(cè)器上的顆粒信號(hào)，準(zhǔn)確解析出實(shí)際的顆粒分布是一個(gè)難點(diǎn)。由于不同探測(cè)器的信號(hào)相差非常大，而且信息中還夾雜很多干擾成分，要保證在有干擾的情況下分析數(shù)據(jù)達(dá)到偏差小，標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)重復(fù)性誤差在允許范圍之內(nèi)，儀器內(nèi)部安裝結(jié)構(gòu)也尤為重要。