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        1. 上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司

          中級(jí)會(huì)員·13年

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          慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)
          參考價(jià): 面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 產(chǎn)品型號(hào)
          • 其他品牌 品牌
          • 生產(chǎn)商 廠商性質(zhì)
          • 上海市 所在地

          訪問(wèn)次數(shù):1798更新時(shí)間:2024-08-19 10:30:14

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          中級(jí)會(huì)員·13年
          聯(lián)人:
          凌工
          話:
          4001616556
          機(jī):
          15000330092
          址:
          上海市閔行區(qū)聯(lián)明路555號(hào)
          個(gè)化:
          www.jetyoo.com
          網(wǎng)址:
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          產(chǎn)品簡(jiǎn)介
          產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子
          慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 符合IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱循環(huán)、濕冷凍、濕熱規(guī)范當(dāng)中的試驗(yàn)要求
          產(chǎn)品介紹

          慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)  

              薄膜太陽(yáng)電池可以使用在價(jià)格低廉的玻璃、塑料、陶瓷、石墨,金屬片等不同材料當(dāng)基板來(lái)制造,薄膜太陽(yáng)電池在溫度循環(huán)、濕冷凍、濕熱試驗(yàn)中的量測(cè)及電壓輸入的方式,與晶圓型是不一樣的所以量測(cè)方式也所有不同,是不可以混淆的,薄膜型太陽(yáng)能電池所依據(jù)的試驗(yàn)規(guī)范為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等。

          形成可產(chǎn)生電壓的薄膜厚度僅需數(shù)μm,因此在同一受光面積之下可較硅晶圓太陽(yáng)能電池大幅減少原料的用量(厚度可低于硅晶圓太陽(yáng)能電池90%以上),目前轉(zhuǎn)換效率高以可達(dá)13%,薄膜電池太陽(yáng)電池除了平面之外,也因?yàn)榫哂锌蓳闲钥梢灾谱鞒煞瞧矫鏄?gòu)造其應(yīng)用范圍大,可與建筑物結(jié)合或是變成建筑體的一部份,在薄膜太陽(yáng)電池制造上,則可使用各式各樣的沈積(deposition)技術(shù),一層又一層地把p-型或n-型材料長(zhǎng)上去,常見(jiàn)的薄膜太陽(yáng)電池有非晶硅、CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、和CdTe..等。

           

          慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品特色:

          a.符合IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱循環(huán)、濕冷凍、濕熱規(guī)范當(dāng)中的試驗(yàn)要求

          b.試驗(yàn)過(guò)程進(jìn)行相關(guān)電性與物理量量測(cè)

          c.柜內(nèi)頂端不得有凝結(jié)水滴在試件上

          d.專(zhuān)li設(shè)計(jì)太陽(yáng)能放置治具

          e.試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品回常溫保護(hù)機(jī)制

           

          目的:確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。

          要求:

          1.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度,測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

          2.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

          3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

          4.監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

           

          慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 參數(shù)指標(biāo)

          溫度循環(huán)比較

           

          低溫

           

          高溫

           

          溫變率

           

          駐留時(shí)間

           

          循環(huán)數(shù)

           

          IEC61646

           

          -40±2℃

           

          85±2℃

           

          大100℃/h

           

          少10min

           

          50、200

           

          GB18911

           

          -40±2℃

           

          85±2℃

           

          大100℃/h

           

          少10min

           

          50、200

           

          CNS15115

           

          -40±2℃

           

          85±2℃

           

          大100℃/h

           

          少10min

           

          50、200

           

          Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)

           

          目的:確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。

          要求:

          1.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度,測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

          2.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

          3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

          4. 監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

           

           

          溫度循環(huán)比較

           

          高溫高濕

           

          低溫

           

          溫變率

           

          循環(huán)數(shù)

           

          IEC61646

           

          85℃/85±5%(20h)

           

          -40℃(0.5~4h)

           

          高溫升降溫(100℃/h)

          低溫升降溫(200℃/h)

           

          10

           

          GB18911

           

          85℃/85±5%(20h)

           

          -40℃(0.5~4h)

           

          高溫升降溫(100℃/h)

          低溫升降溫(200℃/h)

           

          10

           

          CNS15115

           

          85℃/85±5%(20h)

           

          -40℃(0.5~4h)

           

          高溫升降溫(100℃/h)

          低溫升降溫(200℃/h)

           

          10

           

          Damp Heat(濕熱測(cè)試)

          目的:確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。

          試驗(yàn)條件:85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)

           

           

            直立式觸控式控制系統(tǒng)

           控制系統(tǒng)通過(guò)EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證

            直立式全彩液晶TFT,簡(jiǎn)/繁/英文顯示器

            9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間

            150 program x 100 step 程序記憶容量

            USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄 

            12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口

            全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)

            High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

            Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

           

          慶聲KSON太陽(yáng)能電池開(kāi)路量測(cè)檢測(cè)系統(tǒng)

          (Photovoltaic Module Electrical Performance Test)  

           太陽(yáng)能電池在可靠度測(cè)試中必須要進(jìn)規(guī)范所提到的濕冷凍、溫度循環(huán)、濕熱試驗(yàn)..等試驗(yàn),確認(rèn)太陽(yáng)能電池在試驗(yàn)過(guò)程當(dāng)中是否發(fā)生故障或是失效,透過(guò)開(kāi)路測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)行簡(jiǎn)易的太陽(yáng)能電池失效判定。

           

          IEC61646、IEC61215、UL1703、IEEE1513規(guī)范對(duì)試驗(yàn)中量測(cè)系統(tǒng)要求:

          太陽(yáng)能電池規(guī)范

          IEC61646(薄膜太陽(yáng)能)

          IEC61215(晶圓太陽(yáng)能)

          UL1703(晶圓太陽(yáng)能)

          IEE1513(聚光型太陽(yáng)能)

          整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

           

          熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

          監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

           

          熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

          整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度

           

          熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

          并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

           

          熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

          絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求

           

          熱循環(huán)、濕冷凍、

          濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍、

          濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍、

          濕熱試驗(yàn)

          施加電流等于測(cè)試模塊之STC大功率電流±2%之儀器(50個(gè)cycle內(nèi)不需通電,模塊溫度大于25℃時(shí)才通電)

           

            熱循環(huán)  

          測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

           

          熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

           

          適用規(guī)范:IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 

          試驗(yàn)試驗(yàn)條件:溫度循環(huán)(Thermal Cycling Test)、濕冷凍(Humidity Freeze Test)

          濕熱 (Damp-heat test)

          量測(cè)軌道:4組太陽(yáng)能電池(溫度*1+電壓*2+電阻*1)+爐內(nèi)溫濕度

          失效判定:設(shè)定量測(cè)值上下限范圍

          報(bào)表:EXCEL報(bào)告

          曲線:18軌多軌曲線(電壓、電阻、表面溫度、試驗(yàn)爐溫濕度)

          控制模式:量測(cè)、暫停、停止

          溫度量測(cè):熱電偶合

          備注:此系統(tǒng)不包含太陽(yáng)能恒溫恒濕機(jī)、計(jì)算機(jī)、計(jì)算機(jī)桌、儀器架

          建議搭配設(shè)備:太陽(yáng)能恒溫恒濕機(jī)



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