、低溫試驗(yàn)/ Cold test

　　因?yàn)榈蜏貛缀鯇?duì)所有的產(chǎn)品材料都有不利的影響。對(duì)于暴露于低溫環(huán)境的產(chǎn)品或裝備，由于低溫會(huì)改變其組成材料的物理特性，因此可能會(huì)對(duì)其工作性能造成暫時(shí)或性的損害。

　　低溫試驗(yàn)僅限于用確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

1.1方法標(biāo)準(zhǔn)：

　　●GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》

　　●IEC 60068-2-1《Environmental testing-Part2-1:Tests-Test A：Cold》

1.2試驗(yàn)?zāi)芰Ψ秶?/strong>

　　溫度范圍: -50℃～+200℃

　　溫度均勻度: ≤2℃

　　濕度范圍: 0%～100%R.H.

　　濕度誤差: +2/-3%R.H.

　　樣品室尺寸：W50×D60×H75(cm)

1.3應(yīng)用領(lǐng)域：

　　信息技術(shù)產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.

　　汽車電子產(chǎn)品.電動(dòng)玩具產(chǎn)品.

二、高溫試驗(yàn)/ Dry heat test

　　因?yàn)楦邷貛缀鯇?duì)所有的產(chǎn)品材料都有不利的影響。對(duì)于暴露于高溫環(huán)境的產(chǎn)品或裝備，由于高溫會(huì)改變其組成材料的物理特性，因此可能會(huì)對(duì)其工作性能造成暫時(shí)或性的損害。

　　高溫試驗(yàn)僅限于用確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

2.1方法標(biāo)準(zhǔn)：

　　●GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》

　　●IEC 60068-2-2《Environmental testing-Part2-2:Tests-Test B:Dry heat》

2.2試驗(yàn)?zāi)芰Ψ秶?/strong>

　　溫度范圍: -50℃～+200℃

　　溫度均勻度: ≤2℃

　　濕度范圍: 0%～100%R.H.

　　濕度誤差: +2/-3%R.H.

　　樣品室尺寸：W50×D60×H75(cm)

2.3應(yīng)用領(lǐng)域：

　　信息技術(shù)產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.

三、恒定濕熱試驗(yàn)/Damp heat,steady stat test

　　因?yàn)楦邼穸葞缀鯇?duì)所有的產(chǎn)品材料都有不利的影響。對(duì)于暴露于高濕度環(huán)境的產(chǎn)品或裝備，由于高濕度會(huì)降低其組成材料的物理特性，因此可能會(huì)對(duì)其工作性能造成暫時(shí)或性的損害。

　　高濕度試驗(yàn)僅限于用確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕度環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

3.1方法標(biāo)準(zhǔn)：

　　●GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)C：恒定濕熱》

　　●IEC 60068-2-78《Environmental testing-Part2-78:Tests- Test Cab: Damp heat,steady stat》

3.2試驗(yàn)?zāi)芰Ψ秶?/strong>

　　溫度范圍: -50℃～+200℃

　　溫度均勻度: ≤2℃

　　濕度范圍: 0%～100%R.H.

　　濕度誤差: +2/-3%R.H.

　　樣品室尺寸：W50×D60×H75(cm)

3.3應(yīng)用領(lǐng)域：

　　信息技術(shù)產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.

　　汽車電子產(chǎn)品.電動(dòng)玩具產(chǎn)品.汽車電子產(chǎn)品.電動(dòng)玩具產(chǎn)品.

四、交變濕熱試驗(yàn)/Damp heat,cyclic(12h+12h cycle)

　　因?yàn)楦邷睾透邼穸冉M合幾乎對(duì)所有的產(chǎn)品材料都有不利的影響。對(duì)于暴露于高溫和高濕度組合環(huán)境的產(chǎn)品或裝備，由于高溫和高濕度組合會(huì)改變其組成材料的物理特性，因此可能會(huì)對(duì)其工作性能造成暫時(shí)或性的損害。

　　高溫和高濕度組合試驗(yàn)僅限于用確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫和高濕度組合環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

4.1方法標(biāo)準(zhǔn)：

　　●GB/T 2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱(12h+12h循環(huán))》

　　●IEC 60068-2-30《Environmental testing- Part 2-30:Tests- Test Db: Damp heat,cyclic(12h+12h cycle)》

4.2試驗(yàn)?zāi)芰Ψ秶?/strong>

　　溫度范圍: -50℃～+200℃

　　溫度均勻度: ≤2℃

　　濕度范圍: 0%～100%R.H.

　　濕度誤差: +2/-3%R.H.

　　樣品室尺寸：W50×D60×H75(cm)

4.3應(yīng)用領(lǐng)域：

　　信息技術(shù)產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.

　　汽車電子產(chǎn)品.電動(dòng)玩具產(chǎn)品.

五、鹽霧試驗(yàn)/ Salt mist,IDT test

　　適用于驗(yàn)證電氣設(shè)備或元件在含鹽大氣中的耐受程度，模擬電氣設(shè)備或元件在海洋環(huán)境、沿海地區(qū)使用或直接/間接暴露在以上地區(qū)使用的耐久程度。

　　用于考核材料及其防護(hù)層的抗鹽霧腐蝕能力，以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較，也可考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。

5.1方法標(biāo)準(zhǔn)：

　　●GB/T 2423.17《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧》

　　●IEC 60068-2-11《Basic environmental testing procedures- Part 2:Tests- Test Ka:Salt mist,IDT》

5.2試驗(yàn)?zāi)芰Ψ秶?/strong>

　　溫度范圍： +5℃～55℃

　　濕度范圍：85～98%RH

　　溫度均勻度：≤2℃

　　鹽霧沉降量:1～2ml/80cm2.h

　　壓縮空氣壓力:2.00±0.01(kg/cm2)

　　試樣架:滿足15°～30°傾斜試驗(yàn)

5.3應(yīng)用領(lǐng)域:

　　信息技術(shù)產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.

　　汽車電子產(chǎn)品.電動(dòng)玩具產(chǎn)品.

　　零部件、電子元件、金屬材料的防護(hù)層等